[参考译文] UCC27611：用于高侧配置时的非预期输出关断

尊敬的 Martin：

让我分享一些标记在捕获上的评论：

似乎这些输出随机关闭、但当它们关闭时、我认为 IN 上的电压可能会降至~2V 的导通阈值以下。 在这个规模上很难判断。 我圈出的另一个问题似乎是单独的故障模式。 在这个例子中、差异显然保持在高电平、但似乎 CONTROL/HS 正在下降。

只要满足以下条件、驱动器就应该始终输出高电平：

IN+必须为高电平、IN-必须为低电平、VREF 必须高于 UVLO。 或者它可以配置为反相、但我假设您没有这样做。 无论如何、如果驱动器输出下降、则必须满足其中一种条件、或者驱动器本身必须损坏。  

当出现这些问题之一时、我会发现提供所有这些电压的捕捉功能非常有用。 如果可能、差分测量使查看发生的情况变得容易得多。 我知道您提到了测量电压、但是在发生这种情况时还是在直流平均值条件下进行了瞬态测量？ 如果问题发生时一切正常、那么我们就知道驱动程序出现了问题、我们可以尝试对此进行调查。 否则、我希望首先查看最简单的解释。

如果没有差分探针、您能否添加一个数学函数来显示差分电压？ 或者至少具有非常清晰的 HS 波形、以便我可以看到差异？  

谢谢。

A·M·

尊敬的 Alexander：

谢谢你。 请查看下面的测量结果。

差分测量是使用高电压差分探头进行的。 因此、它在其感测电缆上收集的噪声比在电路板上收集的噪声多。

我已经将探针连接到了因 UCC 采用小封装而位于 UCC 另一侧的电容器上。 电容在焊垫上通过过孔连接至另一侧的 UCC。 虽然这并不完美、但我认为这对我看到的时间常数(65ns)没有影响。

VDD

VDD 显示在低电平时间内重新充电。

参考电压

IN+

IN-直接连接到 UCC 的 GND。

我认为"同步故障模式"不是故障。 电感器中的电流 过低、无法对结电容进行放电。  

此致、

 马丁

尊敬的 Martin：

除了短暂地超过 VREF absmax 之外、一切看起来都非常好。 此外、这可能就是您所说的噪声。 通常、如果驱动器损坏、则会损坏、无法恢复。 我感到惊讶的是、多个逻辑错误看起来是没有损坏的。  

很抱歉添加到列表、但您也能通过 HS 捕获 OUTH/L w.r.t。 此外、您能否捕获负载电流？ 也许负载电流可以解释为什么它似乎是如此随机发生的。 我预计该电压会随低侧的占空比而变化。

可能值得实施这样的方案。 不过、我会等到我们进一步缩小根本原因之后再做。 这有助于确保驱动器所连接的 HS 节点不会变为太负、从而不会导致问题。

尊敬的 Alexander：

当我将导线连接到 GaN FET 栅极时、栅极驱动器的"关断时间"和周期数得以缩短、从而提升了栅极驱动器的运行。 将导线连接到差分探头可以进一步改善这种情况。 拔下导线、反转至原始状态。

使用差分探头测量 GaN 栅极：

差分探头断开连接但导线连接：

(与之前在同一工作点的3个脉冲相比、仅一个"关闭"脉冲。)

使栅极驱动器跳闸的栅极上看起来有一些"噪声"/"振荡"、即使这没有被探头追踪。 有什么想法可以抑制这种情况吗？ 我将 UCC27611用于 EPC2202、它在 OUTH 上具有2.4欧姆电阻器并直接连接到 OUTL。  

您是否认为、增加栅极电阻器、添加~10k 下拉电阻器或一些额外的栅源电容会有所帮助？  

我尝试进行电流测量、但这需要对设置进行更大的更改。

此致、

 马丁

尊敬的 Martin：  

Alex 目前是 OOO 的假期。 当他返回时、他会返回给您。  

谢谢！

此致！  

薇薇安