大家好、
数据表上的方框图可能不正确。
根据图、如果感测电压低于阈值、比较器的输出为低电平、逻辑输出为低电平、则 PCH FET 导通、CT 电容器将被切割。 这意味着 CT 计时器是复位检测延迟、但它应该是复位释放延迟。
"与"逻辑应该是"与非"逻辑。 如果是、CT 后的缓冲器应该是反相器。
我的理解是否正确?
如果是、请在下一次数据表更新时更新该图。
此致、
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大家好、
数据表上的方框图可能不正确。
根据图、如果感测电压低于阈值、比较器的输出为低电平、逻辑输出为低电平、则 PCH FET 导通、CT 电容器将被切割。 这意味着 CT 计时器是复位检测延迟、但它应该是复位释放延迟。
"与"逻辑应该是"与非"逻辑。 如果是、CT 后的缓冲器应该是反相器。
我的理解是否正确?
如果是、请在下一次数据表更新时更新该图。
此致、
Andrew-san:
11 = 1表示"非手动复位"、VDD 高于阈值"= AND-LOGIC 处的高电平。
当 AND 逻辑输出为高电平时、Nch (低侧) FET 导通并对 CT 电容器放电。
然而、当 VDD 高于阈值时、CT 电容器应该被"充电"。
如果是 NAND、11=0并且所有其他项都为1。
11 = 0表示" 非手动复位"并且 VDD 高于阈值"=在 NAND 逻辑下为低电平。
当与非逻辑输出为低电平时、PCH (高侧) FET 导通并为 CT 电容器充电。 正如预期。
如果我的理解不正确、您能否画出一个图表来解释您的故事?
此致、