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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1407021/bq76940-factory-calibration-parameters
工具与软件：
尊敬的 TI 专家：
根据 AFE 数据表、我们注意到工厂校准是在 TI 端执行的。 您能说明一下在此过程中校准了哪些特定参数以确保准确的结果吗？
您好 Arati、
这些是增益和偏移因子(对于电芯测量)、详见 第 8.3.1.1.2节14位 ADC 状态 所述的要求 和存储在 ADCGAIN 和 ADCOFFSET 寄存器中。
寄存器说明位于数据表中、我建议仔细阅读这些说明、以了解如何使用它们。
此致、
Luis Hernandez Salomon
尊敬的 Luis H.S.
按照您的指导、我查看了 AFE 数据表中有关增益和失调电压值的详细说明。 此外、使用 BQ 评估软件时、我知道应该能够检索原始 ADC 值以及特定 IC 的增益和偏移。
您能否说明这些值是否会随着时间的推移而保持一致、或者它们是否会定期变化？
Arati Lal
Unknown 说：此外、使用 BQ 评估软件时、我明白我应该能够检索原始 IC 值以及特定 ADC 的增益和偏移。
正确。 您可以从 GUI 获取原始值和增益/偏移因子。
Unknown 说：您能否说明这些值是否随时间推移保持一致、或者它们是否倾向于定期变化？
这些参数将随着时间的推移保持不变、并且不会发生变化。 如果您希望它随时间变化、中有一条校准建议 第8.3.1.1.2.1节使用主机微控制器的可选实时校准 状态 所述的要求.
您好、Luis： 感谢您的帮助。 我又收到一个问题。 如果我出于测试目的校准 AFE、之后是否可以复位校准？ 如果是、您能否建议如何执行重置？
校准将在 MCU 侧完成！ AFE 将在所有点存储值、这将保持不变。 MCU 将使用这些存储值来执行电芯计算。
对于校准 、您可以生成新的校准因数、该因数将存储在 MCU 中。 因此、您可以根据需要多次对其进行更改。 我在上面提到的同一节对此进行了解释。
