工具与软件:
嗨、团队:
我的客户在其新设计中评估了 LM38025。 但它们会按如下所示更改一些设置。
VIN = 60V
Vo=12V、并将电感器更改为10uH 或22uH。 (规格如下所示)
2~3执行了短路测试1次、然后 EVM 损坏。
它们使用200R 作为负载、并联一个开关作为 短测试器件。
在2~3 μ s 之后、然后 IC 损坏。 下面的测试波形。 在保护发生后、您会看到一个尖峰。
客户认为 IC 损坏会导致尖峰。 您能提供一些建议吗? 谢谢
Ch1是 Vin
Ch2是 Vo
CH3是 IO