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器件型号：BQ25672 工具与软件：
我按照图中所示构建了系统。 遗憾的是、BQ25672系统在开启充电后会因内部短路而损坏。 我以这种方式损坏了13块 BQ25672。 我制造了两个独立的原型,两个都以同样的方式损坏。
UIN = 21Vdc
Icharge = 1A
最终配置4S (4x4、1V)
我执行的测试：
当将/CE 短接至地时：
当 Rprog = 27k (4S)时、系统会立即损坏
当 Rprog = 13.5k (3S)时、系统正常工作、但在几个快速接地短路/CE 后会损坏
当 Rprog = 8.2k (2S)时、在发生大量接地短路/CE 后、系统可以正常工作、不会造成损坏。
运行期间、充电电流= 1A、电压也是正确的。
通过连接 NTC 热敏电阻接通充电电源后、也会发生损坏。 无论是通过短接/CE 还是连接 NTC 热敏电阻来开启充电、都没有关系。
损坏后：
Q1、Q2 -短接
Q4、Q4、BATFET -正常(MOSFET 二极管上~ 0.5V)
电阻：
SW1 - PMID - 7 m Ω
SW1 - GND 13m Ω
GND-PMID - 27m Ω
什么可能导致损坏？
