[参考译文] BQ76952：在原理图和布局方面需要您的帮助

您好 Phanidar、

您能否共享 bqStudio (.gg)文件、测试程序和设置？ 要与我个人分享、一旦您接受我的请求、您就可以对其进行管理。

此致、
Alexis

您好、Alexis、

我个人与您共享了这些文件。 请求您浏览一下。

谢谢你

您好 Phanidar、

感谢您共享您的文件。 请给我时间来审核它们。  

此致、

Alexis

您好、Alexis、

当然。 希望您能在未来2-3天内提供反馈。 在此基础上,我们可以决定继续使用相同的设计,建议修改或重新设计电路板(最坏情况的可能性)

Phanidhar、您好！

我会尽量在时间线内回复您、不包括周末。

此致、
Alexis

Phanidhar、您好！

进行这些测试时、SRP 和 SRN 引脚之间的电压是多少？ 电流保护存在一些容差、可能导致测试恰好处于设定阈值、有时会触发故障、有时则不会触发。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

我们已将 SCD 的阈值电压设置为100mV。 我们使用1m Ω 的电流检测电阻、因此截止电流为100A。 我在这里有另一个问题。 如果在短路测试期间 AFE 的 BAT 引脚处的电压下降、是否存在电池组故障？ 我们使用了建议的电容器和电阻器值。

尊敬的 Maxwell：

对于因已解决问题而意外单击该选项卡、我们深表歉意。 我们进行短路测试的方法是尝试将 PACK+和 PACK-连接在一起。 因此、当它们都处于接触短路状态时、系统会检测到并触发故障。  

关于 BAT 引脚压降、是的、我们正在对其进行探测以检查电压是否下降。 那么、该探测是否会在 BAT 引脚上引起随机压降？ 但我们尝试在没有探头的情况下也进行了测试、有时仍然无法检测到。 实际上、这种随机检测失败是我们开始在 BAT 引脚上进行探测的原因。 我们还注意到、AFE 在该检测失败期间正在复位。 此时会有点困惑、即 RST_SHUT 引脚上是否有噪声信号、该信号在测试过程中通过降低 BAT 上的电压来复位 AFE？ 还是 BAT 压降导致了 SCD 故障并导致了复位？ 为了澄清,这个关于 BAT 引脚掉落的问题与我个人分享的设计无关。  

Phanidhar、您好！

我建议在示波器上观察 SRP 和 SRN 引脚之间的电压、从而更准确地了解在这些测试期间器件所测量的值。 注入的电流不一定与器件的电流匹配、因为引脚上的 RC 滤波器会影响接收到的信号。

否、我不认为 BAT 引脚压降是设计错误。 我认为查看 SRP/SRN 电压的波形会有所帮助、因为存在已知的器件复位情况、这是由 SRP/SRN 引脚均超过 VSS ~0.75V 引起的。 如果 SCD 瞬变将引脚推高到此阈值、则会解释您看到的行为。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

我将验证 SRP/SRN 的波形并取回。 所以、该~0.75V 的器件复位是可编程的还是固定的？ 此外、由于器件复位、继续我们创建的短路是不是一个好主意？ 因为复位时、随着 AFE 的重启、我需要关注剩余的电路板电路、以防重启后未检测到短路。  

Phanidhar、您好！

此复位不可编程。 如果器件复位、FET 驱动器也将复位、它应该会关闭、然后可以在不久之后重新开启、具体取决于初始化设置。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

我们今天检查了示波器、注意到 SRP 和 SRN 上的尖峰会导致 IC 随机复位。 因此、我们在 SRP 与 GND 之间放置了两个0.1uF 电容器、并在 SRN 与 GND 之间放置了两个电容器、但这种复位问题没有发生。 每次都正确检测到故障。

那么、如果没有这些0.1uF 电容器、这是否意味着每当 BQ76952检测到尖峰时、它就会复位、每当它无法检测到尖峰时、它就能够检测到短路故障？

Phanidhar、您好！

两个引脚上的尖峰超过其建议限值(0.75V)会导致器件复位、并且器件可能无法检测到 SCD。 通过将尖峰抑制到该限值以下、器件将按预期检测到 SCD。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

感谢您的澄清。 请分享您对我个人分享的原理图的反馈和建议。

尊敬的 Maxwell：

感谢您的反馈。 我将尝试再使用一个电路板进行测试、在 SRP 与 GND 之间以及 SRN 与 GND 之间放置0.1uF 滤波电容器。

谢谢你

尊敬的 Maxwell：

感谢您的支持。 我们尝试使用另一个板进行测试。 这次我们在 SRP 和 SRN 和接地之间放置了0.1uF 滤波电容器。 它检测到短路并触发了 SCD 故障。 然而、我们注意到、当我们为电池组充电、直到过压切断和尝试短路测试时、并没有被检测到。 由于未检测到故障、FET 已烧断。 电池组本身是否存在问题？

尊敬的 Maxwell：  

否 只有放电 FET 被烧断。 充电 FET 是安全的。 当 FET 第一次烧坏时、我们更换了 FET、放电一段时间、然后再次进行测试。 便会成功检测到它。 当我们再次对其充电、直到 COV 并执行测试时、再次无法检测到。

Phanidhar、您好！

您能否观察 SRP 和 SRN 引脚之间的电压以查看是否满足故障阈值？

此致、

Max Verboncoeur

您好、Maxwell：

我们无法监控 SRP 和 SRN 引脚之间的电压。 当我们尝试连接探针时、AFE 显示随机故障。 但是、我们使用另一个电池组测试了相同的 BMS。 对于该图、在较低电压下、AFE 进行复位、同时它在满电压下正确检测到 SCD 故障。 它在全电压电平上只复位一次。 此时、我们用于连接 BATT+和电池正极的保险丝与 FET 一起烧断。

以前的电池组是一个较旧的电池组(超过5年)。 最大电芯电压与最小电芯电压之间的差值也很高(约为0.4V)。 我们今天测试的是新电池组。

我的理解是,它是随机的失败。 调整 SRP 和 SRN 的 RC 值是否会防止这种故障？ 我想用51欧姆替换推荐的100欧姆(连接0.1 μ F 电容器)。 这是否会对检测产生任何重大影响？   

Phanidhar、您好！

该器件不应因在 SRP 和 SRN 引脚之间连接探头而触发故障。 是否连接了其他探头？ 接地引线是否位于不同节点上？

您可以尝试调整 RC 滤波器的滤波特性、以针对器件在系统中看到的特定瞬态。 这些对于检测不是很重要、因为该测量是差分测量。 它应该只影响滤波频率。

此致、

Max Verboncoeur

尊敬的 Maxwell：

否、我们未连接任何其他探针。 我们想注意实际发生了什么。 因此、我们触摸了一个 SRP 探针、发现它触发了短路故障。 我们还尝试将 SRP 和 SRN 连接到示波器、并注意到它会触发短路故障。 我们将其保持了很长时间、该事件触发了 SCD 故障、然后触发了 LATCH (我们将 LATCH 的限制设置为2)。 它是在拾取噪声吗？

Phanidhar、您好！

什么是探头阻抗？ 10M 探头不应导致检测电阻两端的电压出现任何明显差异。

此致、

Max Verboncoeur  

尊敬的 Maxwell：

探头阻抗为1M Ω。 靠近 SRP 和 SRN 线路的 BMS IC 复位引脚的 RC 滤波器元件随机拾取噪声。 我们将其消除、噪声被消除。 现在、检测是正确的。 感谢您的支持！