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器件型号：BQ79616 工具与软件：
尊敬的先生：
在初步的实验验证中、我们看到了 AFE 芯片出现多种失效模式、包括负载切断导致电流快速下降、导致 AFE 芯片潜在受损、焊接电池组内部时激光焊接铜套未能使电池电芯与 AFE 采样线束实现绝缘、以及电池组外部单点绝缘失效(LINK+)。
从故障后的现象可以看到芯片的第9到14个 Vc 通道基本烧坏了、外围均衡采样电阻也烧坏了。 使用万用表的测量结果显示对地短路。
我想问为什么这些通道总是被不同的故障模式烧毁、这些通道有哪些特殊功能？ 为什么采样电阻器也烧毁、应如何保护它们？ 具体的故障模式或浪涌路径是什么？
此致、
库博
