工具与软件:
您好!
我在相当静态的工作模式下使用该器件、输入电压为+5V (+/-10%)、负载电流范围为30mA 至60mA。
在大约200个器件上、室温测试表明输出电压变化 为+/- 1%、其中包括+/-0.2%的反馈电阻器总容差。
在数据表的审查中、LDO 的容差有两个规格:可调电压:1)+/-3%和2)+/-1%。 看起来我们更符合+/-1%规格、其中考虑了室温、Vin 固定为2.21V、负载电流为1mA、而不是考虑 Vin (2.5V 至20V)、ILOAD (1mA 至1.5A)和温度(-40C t0 125°C)的更宽容差规格
测试与温度间的关系表明 LDO 输出漂移非常小、分别为-0.006%(25°C 到15°C)和-0.27%(25°C 到70°C)...这还包括温度系数为25ppm/C 的反馈电阻器
我现在的挑战是、假设 LDO、Vadj 随着时间的推移会有一些微小的变化、那么估计老化相关漂移可能是多少。 由于 LDO 的电气工作模式是相当静态的、但工作温度处于-15°C 至70°C 范围内、是否有办法考虑 LDO、5年、10年或15年后的 Vadj 漂移可能是什么? 它是否倾向于正或负漂移、漂移量是多少?
此致、
Sean