[参考译文] BQ34110EVM-796：BQ34110EVM-796

尊敬的 Vinayak：

如果您仅对 BAT+施加3.6V 的电压、则需要将 J2切换到 <=5V

此致、

Diego

尊敬的 Diego：

我们在 BAT+之间连接14V 电池、并且 J2已进行相应配置。 请告诉我如何分析这种情况。

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

尊敬的 Vinayak：

在这种情况下、您的设置看起来不错。

BQstudio 上是否有自动检测功能？

您的器件上的 TS 引脚是否会脉动？

此致、

Diego

您好、Diego：

否、BQstudio 中未发生自动检测。

此外、我们使用万用表检查了 TS 引脚、它在0V 时始终处于低电平状态

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

尊敬的 Vinayak：

您的设备未通电或已损坏。

此致、

Diego

您好、Diego：

请告知我们如何更换或退回 EVM。 我们是通过 Digikey 购买的。

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

尊敬的 Vinayak：

您可以订购 BQ34110样片和替换 EVM 上的 IC。

此致、

Diego

您好、Diego：

好了、我们将订购样片、然后替换 IC。

这是否会影响 EVM 的保修？

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

您好！

我目前正在研究这个问题、请允许我某个时间。

此致、

Diego

尊敬的 Vinayak：

我不确定是否请联系 TI 客户支持。

联系我们|技术支持|德州仪器 TI.com

此致、

Diego

您好、Diego：

我们确实根据您的建议更换了 IC、并且 BQStudio 中会按预期进行自动检测。 请重定向至任何现有的 I2C 驱动程序、以通过 Code Composer Studio 中的代码读取电池电压。

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

添加了

检测按预期发生、但在尝试解封闪存以获取完整详细信息时、结果区域中显示的结果称为 NA。 电压电平显示为649mv、但电池会充电至其容量的一半。

为了更好地理解、我附上了屏幕截图。

现在我再添加一个问题、如下所示。

我尝试通过输入施加的电压来校准电压、但校准过程失败。 但当我尝试进行温度和电流校准时、它会成功。

请对此问题和之前的问题发表评论。 附加屏幕截图以便更好地理解。

您好！

请分享您的.gg

此致、

Diego

您好、Diego：

我不明白.gg 的含义

请帮助我理解其含义。

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

尊敬的 Vinayak：

因此、.gg 文件是一个包含所有数据闪存参数的文件、

这可以通过转到"Data memory"选项卡在 BQstudio 上生成、如果您点击"export"、则在右上角生成.gg 文件。

此致、

Diego

您好、Diego：

请查找根据您的说明生成的.gg 文件。

e2e.ti.com/.../fuel_5F00_guage_5F00_details.gg.csv

请告诉我们如何使 IC 从 SNOOZE 模式进入正常模式,我们确实尝试将 SLEEP 位设置为0 ,这样做后,它将保持在正常模式15秒,并再次恢复到 SNOOZE 模式。

我们试图将 VEN 位配置为其正确的值,但仍然没有改善。

此致、

Vinayak

您好！

我目前正在研究这个问题、请允许我某个时间。

此致、

Diego

尊敬的 Diego：

任何更新？？

此致、

Vinayak R. G.

您好 Vinayak、

我们仍在研究这一点。 请允许我们花一些时间。

此致、

Adrian

尊敬的 Adrian 和 Diego：

如果有任何更新、请告诉我。

温柔的提醒！！

尊敬的 Vinayak：

您是否能够校准器件？ 或者您是否仍有问题？

由于为器件供电的低电压或电源不一致、监测计很可能会转换到睡眠模式。

添加更多电池时、您是否重新配置了监测计中的设置、例如设计容量、终止电压等？

此致、

Diego

尊敬的 Diego：

感谢您的答复。

下面是我们所面临问题的详细说明、我们希望获得您的解决指导。

我们尝试了使用多节电池对 EVM 进行校准、但由于 IC 是针对单节电池预先配置的、因此该过程失败。 为了解决此问题、我们连接了单节电池并按如下方式修改数据闪存配置：

1. 将 VEN 引脚设置为高电平(以启用外部分压器)。
2. 将分压器值修改为 19200 .
3. 将串联电池节数更改为 4. (根据我们的电池器件型号：Ref - SE20542NR29)。
4. 将"Flash Update OK Voltage"更新为 100mV .

经过这些修改、我们注意到只有在连接单节电池后才允许更新数据闪存一次。 如果我们尝试修改任何其他参数、则会遇到错误：写入的数据读取比较失败。

按照上述配置步骤、我们将多节电池(REF - SE20542NR29)连接到 EVM。 但我们可以读为  14800mV  时、EVM 不再允许任何进一步的参数修改。 如果我们在此阶段尝试校准 EVM、则会进入 SEALED 模式 即使在执行 UNSEAL 命令之后、也无法解封。

为了解封 EVM、我们尝试移除板上的 VEN 连接器、这样便可以成功解封器件。 但是、这种行为似乎不寻常且不恰当。 再次连接 VEN 会拒绝 IC 解封。

我希望这种解释能使人们清楚地了解情况。 请指导我们如何解决这个问题。

此致、
Vinayak R. G.

温柔的提醒。

尊敬的 Adrian 和 Diego：

我们正在等待您的回复。

尊敬的 Diego 和 Adrian：

我希望您做得好。

目前、我们正在研发集成 bq34110z IC 的定制电路板。 然而、我们正面临一个问题、我们需要先解决该问题、然后才能进行生产。 请您对上一问题作出答复、以便我们继续处理？

非常感谢您的帮助。

此致、
Vinayak R. G.

温柔的提醒！！

您好、Diego：

还在等待您的回复。

温柔的提醒。

尊敬的 Vinayak：

您很可能需要发送校准使能命令。 您可以监控 cal_en 位来监控监测计是否处于校准模式。

是否在任何时候更改了密封/解封密钥？

此致、

Diego

您好、Diego：

感谢您回复我的问题。 关于您关于启用校准命令的建议、我已尝试过多次。 当它确实cal_en临时更改该位的状态(大约5–10秒)时、它会在该持续时间之后恢复为默认值。

然而、我们主要关注的不是校准。 它与写入数据闪存相关。 正如我在前面的消息中所述、只允许对数据闪存内容进行一次更改、我们希望解决这个问题、以便我们可以继续前进并将重点放在此后的其他问题上。

您能否就数据闪存问题提供您的评论或建议？

此致、
Vinayak R. G.

尊敬的 Vinayak：

我以前没有看到过这个问题、是在多个器件上出现了这个相同的问题、还是仅在特定的设置上出现了这个问题。  

以阐明在最初写入电量监测计之后无法更改任何数据闪存参数？

您可以导入.gg 吗？

此致、

Diego

尊敬的 Diego：

感谢您的答复。

我们尝试提取.gg 文件,但失败严重。

然后,我们从 J5中移除了短路引脚,然后允许我们解封并提取.gg 文件,但这种行为是不适当的。

请按照您的建议找到提取的.gg 文件。

e2e.ti.com/.../6761.new.gg.csv

此致、

Vinayak R. G.

尊敬的 Vinayak：

要确认何时消除对 CE 的短路、是否能够与电量监测计通信？

我将查看配置

此致、

Diego