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[参考译文] BQ34110EVM-796:BQ34110EVM-796

Guru**** 2578735 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ34110, BQ34110EVM-796, EV2400, BQSTUDIO

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1428053/bq34110evm-796-bq34110evm-796

器件型号:BQ34110EVM-796
主题中讨论的其他器件: EV2400BQSTUDIO、BQ34110

工具与软件:

您好、TI 支持团队:

             我们正在使用 Battery Management Studio 软件开发 BQ34110EVM-796。 我们进行了如下所示的跳线设置、

1.在 J2中连接跳线至>5V 的条件。

2.将 J5连接到16V 跳线。

3.在 J4中、所有3个配置都已连接。

4. len、VEN 跳线已连接。

5.用万用表检查时、IC 电压的输入读数为3.6V。

6. CE 引脚输入按预期高,但没有输出。

7. BQ34110EVM-796内部 LDO 无输出、 使用 EV2400接口适配器连接时、无法检测到带有 Battery Management Studio 的 BQ34110EVM-796。

请告知我们如何评估上述情况。

我在此附上我们迄今为止所做的连接的图像。

此致、

Vinayak R. G.

Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    尊敬的 Vinayak:

    如果您仅对 BAT+施加3.6V 的电压、则需要将 J2切换到 <=5V

    此致、

    Diego

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    尊敬的 Diego:

    我们在 BAT+之间连接14V 电池、并且 J2已进行相应配置。 请告诉我如何分析这种情况。

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    尊敬的 Vinayak:

    在这种情况下、您的设置看起来不错。

    BQstudio 上是否有自动检测功能?

    您的器件上的 TS 引脚是否会脉动?

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    否、BQstudio 中未发生自动检测。

    此外、我们使用万用表检查了 TS 引脚、它在0V 时始终处于低电平状态

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    尊敬的 Vinayak:

    您的设备未通电或已损坏。

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    请告知我们如何更换或退回 EVM。 我们是通过 Digikey 购买的。

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    尊敬的 Vinayak:

    您可以订购 BQ34110样片和替换 EVM 上的 IC。

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    好了、我们将订购样片、然后替换 IC。

    这是否会影响 EVM 的保修?

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    您好!

    我目前正在研究这个问题、请允许我某个时间。

    此致、

    Diego

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    尊敬的 Vinayak:

    我不确定是否请联系 TI 客户支持。

    联系我们|技术支持|德州仪器 TI.com

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    我们确实根据您的建议更换了 IC、并且 BQStudio 中会按预期进行自动检测。 请重定向至任何现有的 I2C 驱动程序、以通过 Code Composer Studio 中的代码读取电池电压。

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    添加了

    检测按预期发生、但在尝试解封闪存以获取完整详细信息时、结果区域中显示的结果称为 NA。 电压电平显示为649mv、但电池会充电至其容量的一半。

    为了更好地理解、我附上了屏幕截图。

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    现在我再添加一个问题、如下所示。

    我尝试通过输入施加的电压来校准电压、但校准过程失败。 但当我尝试进行温度和电流校准时、它会成功。

    请对此问题和之前的问题发表评论。 附加屏幕截图以便更好地理解。

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    您好!

    请分享您的.gg

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    我不明白.gg 的含义

    请帮助我理解其含义。

    此致、

    Vinayak R. G.

    Embedded Software Engineer @ Mistral Solutions PVT Ltd.

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    尊敬的 Vinayak:

    因此、.gg 文件是一个包含所有数据闪存参数的文件、

    这可以通过转到"Data memory"选项卡在 BQstudio 上生成、如果您点击"export"、则在右上角生成.gg 文件。

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    请查找根据您的说明生成的.gg 文件。

    e2e.ti.com/.../fuel_5F00_guage_5F00_details.gg.csv

    请告诉我们如何使 IC 从 SNOOZE 模式进入正常模式,我们确实尝试将 SLEEP 位设置为0 ,这样做后,它将保持在正常模式15秒,并再次恢复到 SNOOZE 模式。

    我们试图将 VEN 位配置为其正确的值,但仍然没有改善。

    此致、

    Vinayak

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    添加了

    我们尝试将单节电池连接到 EVM、它成功检测到电池百分比(电压)、并顺利进行所有参数校准。

    但是、在连接4节电池且最大电压为14.6V 的多节电池后、电量监测计无法测量电池百分比。 您能否说明需要哪些配置才能使监测计与多节电池兼容?

    此致、
    Vinayak R. G.

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    您好!

    我目前正在研究这个问题、请允许我某个时间。

    此致、

    Diego

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    尊敬的 Diego:

    任何更新??

    此致、

    Vinayak R. G.

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    您好 Vinayak、

    我们仍在研究这一点。 请允许我们花一些时间。

    此致、

    Adrian

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    尊敬的 Adrian 和 Diego:

    如果有任何更新、请告诉我。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    温柔的提醒!!

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    尊敬的 Vinayak:

    您是否能够校准器件? 或者您是否仍有问题?

    由于为器件供电的低电压或电源不一致、监测计很可能会转换到睡眠模式。

    添加更多电池时、您是否重新配置了监测计中的设置、例如设计容量、终止电压等?

    此致、

    Diego

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    尊敬的 Diego:

    感谢您的答复。

    下面是我们所面临问题的详细说明、我们希望获得您的解决指导。

    我们尝试了使用多节电池对 EVM 进行校准、但由于 IC 是针对单节电池预先配置的、因此该过程失败。 为了解决此问题、我们连接了单节电池并按如下方式修改数据闪存配置:

    1. 将 VEN 引脚设置为高电平(以启用外部分压器)。
    2. 将分压器值修改为 19200 .
    3. 将串联电池节数更改为 4. (根据我们的电池器件型号:Ref - SE20542NR29)。
    4. 将"Flash Update OK Voltage"更新为 100mV .

    经过这些修改、我们注意到只有在连接单节电池后才允许更新数据闪存一次。 如果我们尝试修改任何其他参数、则会遇到错误:写入的数据读取比较失败

    按照上述配置步骤、我们将多节电池(REF - SE20542NR29)连接到 EVM。 但我们可以读为  14800mV  时、EVM 不再允许任何进一步的参数修改。 如果我们在此阶段尝试校准 EVM、则会进入 SEALED 模式 即使在执行 UNSEAL 命令之后、也无法解封。

    为了解封 EVM、我们尝试移除板上的 VEN 连接器、这样便可以成功解封器件。 但是、这种行为似乎不寻常且不恰当。 再次连接 VEN 会拒绝 IC 解封。

    我希望这种解释能使人们清楚地了解情况。 请指导我们如何解决这个问题。

    此致、
    Vinayak R. G.

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    温柔的提醒。

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    尊敬的 Adrian 和 Diego:

    我们正在等待您的回复。

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    尊敬的 Diego 和 Adrian:

    我希望您做得好。

    目前、我们正在研发集成 bq34110z IC 的定制电路板。 然而、我们正面临一个问题、我们需要先解决该问题、然后才能进行生产。 请您对上一问题作出答复、以便我们继续处理?

    非常感谢您的帮助。

    此致、
    Vinayak R. G.

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    温柔的提醒!!

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    您好、Diego:

    还在等待您的回复。

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    温柔的提醒。

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    尊敬的 Vinayak:

    您很可能需要发送校准使能命令。 您可以监控 cal_en 位来监控监测计是否处于校准模式。

    是否在任何时候更改了密封/解封密钥?

    此致、

    Diego

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    您好、Diego:

    感谢您回复我的问题。 关于您关于启用校准命令的建议、我已尝试过多次。 当它确实cal_en临时更改该位的状态(大约5–10秒)时、它会在该持续时间之后恢复为默认值。

    然而、我们主要关注的不是校准。 它与写入数据闪存相关。 正如我在前面的消息中所述、只允许对数据闪存内容进行一次更改、我们希望解决这个问题、以便我们可以继续前进并将重点放在此后的其他问题上。

    您能否就数据闪存问题提供您的评论或建议?

    此致、
    Vinayak R. G.

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    尊敬的 Vinayak:

    我以前没有看到过这个问题、是在多个器件上出现了这个相同的问题、还是仅在特定的设置上出现了这个问题。  

    以阐明在最初写入电量监测计之后无法更改任何数据闪存参数?

    您可以导入.gg 吗?

    此致、

    Diego

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    尊敬的 Diego:

    感谢您的答复。

    我们尝试提取.gg 文件,但失败严重。

    然后,我们从 J5中移除了短路引脚,然后允许我们解封并提取.gg 文件,但这种行为是不适当的。

    请按照您的建议找到提取的.gg 文件。

    e2e.ti.com/.../6761.new.gg.csv

    此致、

    Vinayak R. G.

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    尊敬的 Vinayak:

    要确认何时消除对 CE 的短路、是否能够与电量监测计通信?

    我将查看配置

    此致、

    Diego