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器件型号：BQ40Z50-R1 主题中讨论的其他器件：BQSTUDIO、 EV2400、 BQ40Z50-R2
工具与软件：
尊敬的 TI 专家：
我们的电池是4S2P、 经过5个周期的寿命测试后、充电不稳定、我保存充电日志。
充电电流总是跳跃、我们测量 MOSFET、它会持续打开和关闭、您能告知原因吗？
工具与软件：
尊敬的 TI 专家：
我们的电池是4S2P、 经过5个周期的寿命测试后、充电不稳定、我保存充电日志。
充电电流总是跳跃、我们测量 MOSFET、它会持续打开和关闭、您能告知原因吗？
Anthony、您好！
EV2400与器件之间的连接良好、有时 我会看到一些变化、例如在寄存器中电池电压为0V、温度异常、Studio 中则出现 ACK 错误。
当我保持充电开启和关闭一段时间,一旦电池电压变得更高,就没有确认错误,充电稳定,没有 FET 切换。
Hi Steel、
在这种情况下最常见的关断类型是基于电压的关断、过程如下所示。 退出 NORMAL 模式后、将执行复位：
R1和 R2设置上的关断参数设置方式是否发生了任何变化？
此致、
Anthony
Anthony、您好！
R1和 R2设置上的关断参数相同。
今天、我比较了我们的 R1样片上的设置和新鲜 R1上的默认设置、我发现、一旦我将项电压从10400更改为默认值9000、开/关/开问题就会停止、当我发送复位命令时、仍然正常。
然后、一旦我再次将值设置为10400并发送复位命令、问题再次出现。
我在下面有一些问题：
A. 终止电压如何导致 R1出现开/关/开 复位问题？
b：将 TERM 电压阈值与 R1寄存器中的哪个电压进行比较？ BAT 引脚电压？
c. R2在端电压判断方面是否有改进？ 为什么具有相同的设置、R1有问题、而 R2没有问题。
