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器件型号：BQ76952 工具与软件：
尊敬的 TI 团队：
我们看到一个问题、即我们可以在400A 上成功执行 SCD (放电短路)、但当我们在800A 或更高电流下执行 SCD 时、它会损坏我们的 DSG FET 和栅极-源极二极管(我们测试了 高达1500A 的电流)。
我将 PM 原理图、gg 文件和波形发送给响应者。
细节-在该问题期间测量 VG 至 VSS 和电流时、VG 按照预期从 BAT + 11V (约36V)变为 VSS、电流会切断、但大约1ms 至2ms 后、VG 升至约18V、电流再次开始流动。 电流启动后、这会持续大约60ms、此时 FET 会熔断。
阅读之前的博文、我们将测量 BQ (SRR、SRP、LD、BAT、REG18)和 FET 节点(VG、VS)上的引脚。
如果 BQ76952在事件期间复位、我们可以通过查看热敏电阻引脚来判断吗？ 还有其他更好的检测复位的方法吗？
