[参考译文] BQ2970：泄漏电流

Fabio 您好、

在欠压保护期间、V-引脚被电阻器 Rv 从内部上拉至 BAT ‘状态下的电流阱 Iv 未激活、如果存在任何"泄漏"、它将流向 BAT 而不是 VSS。

对于过流：
1)放电过流：V-和 VSS 引脚由一个用于检测负载的恒定电流吸收器(Iv)连接。

2)充电过流：V-和 Rv 与电流阱 Iv 之间的电阻 BAT-d 未连接。

中提供了更多详细信息  第8.4.3节"过放电状态"、第8.4.4节"放电过流状态"(放电过流、负载短路)和第8.4.5节"充电过流状态"  应用和实现部分。  

此致、
Alexis

您好、Jian：

1) 1)我不称之为泄漏电流、但是、由于存在电流阱、您可能会收到大约8到24uA 的下拉电流。 一旦负载被移除、V-引脚进入 VSS (BAT/2)电位。 对此进行了说明 第8.4.4节放电过流状态(放电过流、负载短路) 应用和实现部分。

2) COUT 引脚应以 V-为基准、DOUT 引脚应以 VSS 为基准。  如中所述 第7.2节测试电路 应用和实现部分。

此致、
Alexis

您好、Jian：

功能方框图展示了电路内部的简化版本。

当 FET 关断时、COUT 引脚连接至 PACK-/V-引脚。 第7.2节测试电路 在下图中提到了：

您也可以参阅 第5.1.5节充电 FET 栅极驱动输出：COUT 负载。

此致、
Alexis

您好、Jian：

在查看过这篇文章之后、我意识到在提问和我的回复之间可能存在一些混淆。

澄清：
1)在检测到故障后、当 COUT 引脚关闭 CHG FET 时、COUT 引脚在内部被拉至 VSS。 这已正确显示在功能方框图中。
2) 2)不过、在测量 COUT 引脚上的电压时、由于 CHG FET 现在已关闭、COUT 引脚应相对于 V-/PACK-。

对此可能造成的任何混淆、我深表歉意。

此致、
Alexis