[参考译文] CC1200：FSCAL

您好！

您能否检查 PLL 在此温度范围内是否失锁？  在  SWRU346  (CC120x 低功耗高性能低于1GHz 射频收发器用户指南)： https://www.ti.com/lit/swru346：  

• 第9.15节 讨论 FS 校准
• 第9.16节 讨论了 FS 失锁检测

如果使用 SmartRF Studio 连接板并通过它控制器件、您会看到相同的行为吗？

此致、

扎克

发生这种情况时、PLL (FS 失锁)未失锁(仍被锁定)。
该器件已安装在我们的生产板上、但所有寄存器值都来自 SmartRF Studio。

如果您对芯片进行编程以发送连续的随机调制数据、那么在有问题的温度范围之外和之内进行 FSCAL 之后、频谱是什么样的？  

是：蓝色=正常(无 FSCAL)、黑色= FSCAL 之后

因此、在发生 FSCAL...之后、CF 会下降相当多...  (使用基准 X-OSC 完成、因此无晶体漂移。)

是4GFK、625Ksps。

4GFSK、抱歉...

尊敬的 Alex：

如果您使用 SmartRF Studio 的标准500ksps 4-GFSK PHY、您仍然会看到这种行为吗？  

此致、

Hg

刚刚测试了4GFSK、500Ksps：相同的结果、问题不会消失。

我还要提一下：  

• 尝试两种方法：AUTO (空闲到 RX)和 MANUAL (0x33选通)、两者完全相同。
• 尝试降低 PA 功率10dB:没有帮助。
• 尝试 TX 整形开/关：没有区别。

如果我不做 FSCAL、频谱就不会偏移、所有东西都能很好地工作到90°C 及以上...

-我假定你即使发送一个 CW 也能获得同样的频移? 如果是这种情况、您能否测量看到的频移？ 以及预期频率之间的差值？  

-不确定是否从上面可以清楚地看出:无论您上次进行 FSCAL 测试时的温度是多少,是否会发生同样的情况? 频移是否相同？

只有在环境温度介于70C 和80C 之间执行 FSCAL 时、才会发生这种情况。  在这个温度区域之外、FSCAL 将其恢复至正确的频率。  我也不确定这是否是实际的频移或某种失真。  

TI 的问题与4GFSK/500Ksps 的问题相同。  看起来很奇怪……

同样： 蓝色为正常(无 FSCAL)
黑色：问题(在70°C 时执行 FSCAL)
当在70C 或超过80C 的温度下执行 FSCAL 时、一切都会返回蓝色曲线并正常运行。

(与外部基准振荡器配合使用。  无晶体。)

任何外部元件是否会影响此结果？

如果 I FSCAL 为65°C、则运行正常。  如果我然后 FSCAL 为75、则操作是间歇性的(上图)。 然后、如果温度低于70C 或高于80C、I FSCAL、它将恢复正常运行(蓝色迹线)。  因此、只有在70C 至80C 的温度下执行 FSCAL 时才会发生这种情况。  FSCAL 在此温度范围之外按照规定工作(在-55°C 至+90°C 范围内进行测试)。
我的 CC1200已处于链路配置中。  如何使用 CW？
LPF0和 LPF1的确切作用是什么？

我刚意识到我没有尝试任何这些...

你怎么看？

这些设置只会影响相位噪声(只有在使用 CW 或窄带设置进行测试时您才会看到差异)、我怀疑它们会影响任何东西。  

LPF0/ LPF1： 在语法中的相似滤波器中设置一个极点(我想是)。 如果使用了错误的部件(至少值)、它可能会影响频谱。  

我在那里具有1.8nF 的电容。

与 CC1201相比、CC1200具有更低的允许最小 RX 带宽、否则它们是相同的。

此致、

扎克

您是否能够使用1.5nF 进行尝试？ 仔细检查几个参考设计、CC120x 器件的建议值为1.5nF。

否...  我尝试了1.8nF 和1nF ...  结果相同。  但当我降低到100pF 时、完全没有效果。

是否有实际公开提供的这方面的选择指南？

好的、仅尝试了1.5nF。  无效(与1.8nF 相比无可检测到的变化)。

Alex、您能否发布所用 xtal 的数据表？

为此、我将使用温度控制之外的外部 Rohde & Schwarz 工作台基准源。  (我尝试了10至100 ppm 的晶体、结果完全相同)。  在这些图中、晶体未连接。

更新：

• 将 CC1200替换为 CC1201
• 使用 CC1201时、该单元工作时不会出现上述任何问题
• 将外部振荡器替换为 ECS-400-10-37B2-CKM 晶体
• 内部振荡器+晶体没有问题、FSCAL 在所有温度下都能正常工作
• 我的 CC1200 IC 运行不佳的情况仍然存在

以下是 CC1201的相同频谱：  

4GFSK、625KSPS、FSCAL、70C (在30C 至80C 范围内也可使用 FSCAL)、 ECS-400-10-37B2-CKM 晶体。

按照规定工作、TX 频谱相关性与温度几乎为100%。  

此外、CC1201没有代码更改、只需直接替换即可。

CC1200和 CC1201相等、唯一的例外是 CC1201的 RX BW 选项较少。  

您使用 CC1200测试了多少个电路板、并且所有 CC1200都通过了同一批次测试(相同标记)？

是否存在接地焊盘焊接不良的可能性？

我想说、我得到>50个 CC1200像这样的结果。  我们 X 射线检查每个板,但总是有一个机会,当然... 是的、我仅尝试了1个 CC1201 (多构建6个单元、并将更新结果)。  我知道 CC1201有点贵。  CC1201是否有任何来自晶圆的中心或其他...  也许更好的筛查这些吗?

更新了：我使用 CC1201构建了7个电路板、它们都具有良好的性能。  未出现上述问题。

您好！

这两个器件上的无线电是相同的。

您能否使用50kbps PHY 以及 CW 进行测试？

您是否还可以在此处上传原理图？

此致、

Hg  

如上所述、更改符号速率并不能解决问题。
(我无法使用 CW 进行测试、因为它仅在双端点链路中显示。)