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[参考译文] CC1200:FSCAL

Guru**** 657930 points
Other Parts Discussed in Thread: CC1200, CC1201
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/1289068/cc1200-fscal

器件型号:CC1200
主题中讨论的其他器件: CC1201

您好!

在大约50%的器件上、当在+70C 至+80C 的温度区域执行 FSCAL 时、器件会变得间歇性(通信)。
当环境温度高于80°C 或低于70°C 时、器件恢复正常运行。  如果我们不执行 FSCAL、则不会发生此问题:器件在>+90C 下工作非常正常。

我们尝试使用不同的 PPM 晶体以及精确外部振荡器(在温度箱之外)、结果相同。  所以、似乎使用内部振荡器或不使用内部振荡器对这个问题没有影响。  重申一下、发生此问题时、没有基准(40MHz)频率漂移。  这是什么?  这是否表明 CC1200器件有缺陷? 谢谢!

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    您好!

    您能否检查 PLL 在此温度范围内是否失锁?  在  SWRU346  (CC120x 低功耗高性能低于1GHz 射频收发器用户指南): https://www.ti.com/lit/swru346:  

    • 第9.15节 讨论 FS 校准
    • 第9.16节 讨论了 FS 失锁检测

    如果使用 SmartRF Studio 连接板并通过它控制器件、您会看到相同的行为吗?

    此致、

    扎克

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    发生这种情况时、PLL (FS 失锁)未失锁(仍被锁定)。
    该器件已安装在我们的生产板上、但所有寄存器值都来自 SmartRF Studio。

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    如果您对芯片进行编程以发送连续的随机调制数据、那么在有问题的温度范围之外和之内进行 FSCAL 之后、频谱是什么样的?  

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    是:蓝色=正常(无 FSCAL)、黑色= FSCAL 之后

    因此、在发生 FSCAL...之后、CF 会下降相当多...  (使用基准 X-OSC 完成、因此无晶体漂移。)

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    是4GFK、625Ksps。

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    4GFSK、抱歉...

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    尊敬的 Alex:

    如果您使用 SmartRF Studio 的标准500ksps 4-GFSK PHY、您仍然会看到这种行为吗?  

    此致、

    Hg

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    刚刚测试了4GFSK、500Ksps:相同的结果、问题不会消失。

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    我还要提一下:  

    • 尝试两种方法:AUTO (空闲到 RX)和 MANUAL (0x33选通)、两者完全相同。
    • 尝试降低 PA 功率10dB:没有帮助。
    • 尝试 TX 整形开/关:没有区别。
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    如果我不做 FSCAL、频谱就不会偏移、所有东西都能很好地工作到90°C 及以上...

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    -我假定你即使发送一个 CW 也能获得同样的频移? 如果是这种情况、您能否测量看到的频移? 以及预期频率之间的差值?  

    -不确定是否从上面可以清楚地看出:无论您上次进行 FSCAL 测试时的温度是多少,是否会发生同样的情况? 频移是否相同?

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    只有在环境温度介于70C 和80C 之间执行 FSCAL 时、才会发生这种情况。  在这个温度区域之外、FSCAL 将其恢复至正确的频率。  我也不确定这是否是实际的频移或某种失真。  

    TI 的问题与4GFSK/500Ksps 的问题相同。  看起来很奇怪……

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    同样: 蓝色为正常(无 FSCAL)
    黑色:问题(在70°C 时执行 FSCAL)
    当在70C 或超过80C 的温度下执行 FSCAL 时、一切都会返回蓝色曲线并正常运行。

    (与外部基准振荡器配合使用。  无晶体。)

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    任何外部元件是否会影响此结果?

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    我相信您没有回答我的问题。

    -如果您在65度进行校准,然后又在75度进行校准,是否会发生这种情况? 我所问的是、上次成功校准和校准之间的温度差值是否在70°C 到80°C 之间。  

    -您是否能够使用载波进行相同的测量? 使用 CW 将展现出更好的频移以及降级。 从图中看、频谱似乎不再对称。  

    -很少有外部组件能够影响这一点:

    -> 40 MHz xtal 超出数据表中规定的规格。 如果频率在室温下是编程的频率、那么我怀疑外部 xtal 会导致这一点。  

    -> LPF0和 LPF1之间的上限值和/或器件型号错误。  

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    如果 I FSCAL 为65°C、则运行正常。  如果我然后 FSCAL 为75、则操作是间歇性的(上图)。 然后、如果温度低于70C 或高于80C、I FSCAL、它将恢复正常运行(蓝色迹线)。  因此、只有在70C 至80C 的温度下执行 FSCAL 时才会发生这种情况。  FSCAL 在此温度范围之外按照规定工作(在-55°C 至+90°C 范围内进行测试)。
    我的 CC1200已处于链路配置中。  如何使用 CW?
    LPF0和 LPF1的确切作用是什么?

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    我刚意识到我没有尝试任何这些...

    你怎么看?

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    这些设置只会影响相位噪声(只有在使用 CW 或窄带设置进行测试时您才会看到差异)、我怀疑它们会影响任何东西。  

    LPF0/ LPF1: 在语法中的相似滤波器中设置一个极点(我想是)。 如果使用了错误的部件(至少值)、它可能会影响频谱。  

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    我在那里具有1.8nF 的电容。

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    CC1200与 CC1201之间的区别是什么?

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    与 CC1201相比、CC1200具有更低的允许最小 RX 带宽、否则它们是相同的。

    此致、

    扎克

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    您是否能够使用1.5nF 进行尝试? 仔细检查几个参考设计、CC120x 器件的建议值为1.5nF。

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    否...  我尝试了1.8nF 和1nF ...  结果相同。  但当我降低到100pF 时、完全没有效果。

    是否有实际公开提供的这方面的选择指南?

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    好的、仅尝试了1.5nF。  无效(与1.8nF 相比无可检测到的变化)。

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    Alex、您能否发布所用 xtal 的数据表?

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    为此、我将使用温度控制之外的外部 Rohde & Schwarz 工作台基准源。  (我尝试了10至100 ppm 的晶体、结果完全相同)。  在这些图中、晶体未连接。

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    更新:

    • 将 CC1200替换为 CC1201
    • 使用 CC1201时、该单元工作时不会出现上述任何问题
    • 将外部振荡器替换为 ECS-400-10-37B2-CKM 晶体
    • 内部振荡器+晶体没有问题、FSCAL 在所有温度下都能正常工作
    • 我的 CC1200 IC 运行不佳的情况仍然存在
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    以下是 CC1201的相同频谱:  

    4GFSK、625KSPS、FSCAL、70C (在30C 至80C 范围内也可使用 FSCAL)、 ECS-400-10-37B2-CKM 晶体。

    按照规定工作、TX 频谱相关性与温度几乎为100%。  

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    此外、CC1201没有代码更改、只需直接替换即可。

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    CC1200和 CC1201相等、唯一的例外是 CC1201的 RX BW 选项较少。  

    您使用 CC1200测试了多少个电路板、并且所有 CC1200都通过了同一批次测试(相同标记)?

    是否存在接地焊盘焊接不良的可能性?

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    我想说、我得到>50个 CC1200像这样的结果。  我们 X 射线检查每个板,但总是有一个机会,当然... 是的、我仅尝试了1个 CC1201 (多构建6个单元、并将更新结果)。  我知道 CC1201有点贵。  CC1201是否有任何来自晶圆的中心或其他...  也许更好的筛查这些吗?

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    更新了:我使用 CC1201构建了7个电路板、它们都具有良好的性能。  未出现上述问题。

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    您好!

    这两个器件上的无线电是相同的。

    您能否使用50kbps PHY 以及 CW 进行测试?

    您是否还可以在此处上传原理图?

    此致、

    Hg  

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    如上所述、更改符号速率并不能解决问题。
    (我无法使用 CW 进行测试、因为它仅在双端点链路中显示。)