你(们)好
我对芯片 CC2538的偏置感兴趣
我参考 了器件用户手册中的内容
SWRU319C-第6.6.1章 ：解锁调试接口。
步骤1：启动闪存批量擦除
•扫描“公共连接序列(0x07 IR 后跟0x89 DR)”以查看 ICEPick。 请参阅 ICEPick
有关“公共连接序列”的详细信息的功能规范。
•扫描“专用连接序列(0x1F IR 后跟0x01 DR)”以查看 ICEPick。
•执行 IR 扫描001101 (0x0D)、然后执行 IR 扫描001110 (0x0E)以实现 ICEPick。
执行此步骤后、当我扫描 DR 时、我仅接收0x00
这些步骤中是否存在任何错误。
在此阶段、IR 和 DR 长度应该是多少。
提前感谢
您好！
您可以使用 ROM API 擦除和写入flash.http://www.ti.com/lit/ug/swru333a/swru333a.pdf
查看这是否也有帮助(似乎是类似的问题)：
谢谢！
你(们)好
在我的情况下、我无法使用 ROM API、因为器件中已经有一个有效的闪存映像。 因此、我需要使用 JTAG 进行批量擦除
我还在尝试执行 与以下主题中所述相同的过程
https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/zigbee-and-thread/f/158/t/664704
但 在我的案例中、解决方案指定了没有帮助
请告诉我 解锁调试接口中每个步骤的 IR 和 DR 长度
因为我也怀疑 这个问题与错误的长度有关。
下面提到了我用于以下步骤的扫描长度、并标记为蓝色。
扫描“公共连接序列(0x07 IR(6)后跟0x89 DR(8))”以查看 ICEPick。 请参阅 ICEPick
有关“公共连接序列”的详细信息的功能规范。
•扫描“专用连接序列(带有0x1F IR(6) ，后跟0x01 DR(8))”以查看 ICEPick。
•执行 IR 扫描001101 (0x0D)(6) 、然后执行 IR 扫描001110 (0x0E)(6) 以实现 ICEPick。
•监控状态寄存器是否有0x0E IR。 查找[0：4]和[6]位为高电平、[5]位为低电平。 时间
此条件为真、调试解锁序列完成。
在此步骤中、我使用的 DR 扫描长度为32。 考虑 到以下参考文献
•达到上述状态后、发出 ICEPick 指令111110 (0x3E)以清除
调试解锁命令。
如果有问题、请告诉我
谢谢、此致
Vinod
