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本来TPS65130输出为正15.3V，负15V，但用过一段时间后输出变为正15.7V ,负15V了，想请教一下哪个地方出现了问题？谢谢
Hi
能否将你的电路图上传上来看看？
一般而言只有反馈电路出现了变化，才会导致输出电压变成另一值，当然不同的输出电流，输出电压也略微有所偏差，但是偏差不会达到0.4V， 见datasheet：http://www.ti.com.cn/cn/lit/ds/symlink/tps65130.pdf 第十五页Figure 31.
你好！电路图在上面，你看是什么问题，谢谢了。
请问是通电工作多长时间，正的输入电压由15.3V上升到15.7V的？ 在这个过程中芯片发热怎么样？或者说电阻是否有可能被传递到较高的温度变化？
按照你的电路，反馈电阻都是固定值的，如果不是芯片造成的，就可能是电阻受热导致的阻值变化引起的。
另外，这种现象的不良率有多高？ 是否有更换芯片看看是否仍这样（免费样片可以在TI网站上申请：http://www.ti.com.cn/tihome/cn/docs/homepage.tsp）
你好
过程是这样的：我用正15伏电压给一个DA芯片和一个光耦的一端供电，在光耦的另一端受到一个很大的电压冲击后，输出的电压就不正常了，光耦并没有被打坏，芯片不发热，但供电时间长后DA芯片会发热。
能否将这一块的电路图，传上来看一下？
正常而言，光耦的另一侧即便有高压，最多造成光耦损坏，不会影响到TPS65131的，但是看起来应该是引起了FBP电压的微弱变化。
你是在做高压隔离冲击试验还是意外出现的高压导致的？ 能否在重新试验一次，看在这个过程中TPS65131的FBP电压是否发生了微弱的变化(提前测试FBP,后再比较)？
DA芯片发热，如果芯片有PowerPad，注意一下PowerPad的layout和扩张散热。
你好!
我们实验在在静电高压下进行的，高压放电的出现属于意外情况，使用光耦就是想保护DA芯片，以前不接光耦时每次意外放电都会把DA打坏。这个实验做过两次，每次都是这样，放电前都正常，DA也不发热，放电后电压改变，DA发热。电源芯片和光耦我是放在两个板子上的，电压是从第一块板子上的电容C140引出给光耦供电。电源芯片的板子是成品的，电路图在附件里，光耦的电路图我还没有。十分感谢您的解答。
看起来就是放电引起的问题，包括DA发热的问题。
或者你可以在15V供电到光耦之间再串联一个二极管，防止过压出现，而且正常15V与光耦之间肯定是会串联一个电阻的，那么就可以减小电阻，然后增加一个二极管。
你好！
再次感谢您的解答。再问一下，如果我想把电压调回来应该怎么办，换电阻还是要换芯片？
从现在描述的现象来看，很可能是芯片造成输出电压偏掉的，可以通过更换芯片得到验证。
真是十分感谢！
今天我有做了一下测量，发现当通电一段时间DA芯片发烫后，输出的正压就从15.7伏降到14.8V了，请问DA芯片损坏会对输出正压有这么大的影响吗？
肯定有影响，不过建议先查找一下DA芯片损坏的原因，是否是电源引起。
另外，调试的时候先把电源的整体性能调通或者说每个部分先调通，再系统联调，减少调试过程中问题的耦合。
之前提到的，放电后电源芯片和ADC都出现了问题，应该都出现受到损伤，建议更换。
楼主你的两路输出的输出电流分别是多大？以便我们再检查一下你的原理图，谢谢。如果不清楚具体的规格，可以看一下你电源后级使用的芯片供电情况然后评估负载的大概范围。
