BQ25756: BQ25756调试过程中的问题请协助解决

Hi TI team,

客户调试出现以下疑虑需要协助解答，谢谢！

一：问题现象描述

芯片的寄存器读取数据正常，ACUV,  ACOV正常. 读取输入电压正常，电池电压正常。

CHARGE_STAT，111 – Charge Termination Done，为充电截至状态，

P6: PG实际测量是低电平，读寄存器REG0x22_Charger_Status_2 Register的PG_STAT位是0.（应该是1）

实际芯片BQ25756的P7:  CE电平开机，芯片没有输出。

芯片的寄存器EN_CHG置1. BQ25756芯片无法给电池进行充电。

二：测试芯片工作不正常如下。

1：芯片P23:  DRV-SUP没有电。

2：P24:  REGN没有电。

3：P4:   STAT1低电平

4：P5:   STAT2 低电平

三：实际检测PCB发现下面的问题，请问下面的是否可能对芯片的正常工作有影响？

• P36: FSW_SYNC脚悬空了。 

是否一定要接地？

• P10: ILIM_HIZ脚悬空了。

是否一定要接地？

• P29: ACN脚连接，PCB板上悬空了。

手工焊上。

• P24: REGN脚与P23:  DRV-SUP脚未连接。

是否一定要把REGN和DRV-SUP连接上，中间串一个100R电阻。