AFE3010: AFE3010 应用

Part Number: AFE3010

你好,我司使用GFCI 芯片AFE3010生产家用温度控制品已3年时间,但最近一年收到客户投诉出现GFCI false triggered问题, 我司安排产品做 Conducted Immunity (EN 61000-4-6,Frequency range:3MHz ~ 230MHz, test strength 10~20V)测试时,可重复到GFCI false triggered 问题,现象有 ground fault & self test fail, 具体出现问题的频率如下 

  • Test strength 14V: GFCI ground fault at 106~117MHz,123~136MHz,148~169MHz,227MHZ
  • Test strength 20VGFCI ground fault at 20~25MHz,102~125MHz,130-135MHz,206~214MHz,2
  • 14~230MHz

CCT 参数如下:

问题:
1.  AFE3010 芯片设计是否做相关Conducted Immunity 测试?

2. 对于我司电路设计有没改善建议?

  • 相关元件参数如下所示,请建议改善方向,谢谢

  • 感谢您对TI产品的关注。
    我们正在核实您的问题,请等待我们的答复。

  • 据我所知,开发过程中并未包括抗干扰测试。你能分享测试报告吗?

    同时,你可以尝试调整放大器周围的电容,比如 C4/5/6,也可以尝试更换为低 ESL 的电容,看看是否会有改善。

  • 谢谢回复与建议,调整C4/5/6有建议方向吗,如调大或调小,最大/最小范围?

  • 我可能完全错了,但由于问题在高频时发生,可能是电容器的频率响应与此有关。假设噪声通过放大器进入,电容器在过滤噪声方面的效果会较差。 较小的电容器封装通常意味着较小的等效串联电感。也许你可以从那里开始,看看是否有任何区别。

  • 谢谢回复.
    下面是  Conducted Immunity(EN 61000-4-6) 测试报告 & 测试过程中测量信号, 

    1.  Conducted Immunity (EN 61000-4-6)  ,Test strength 14V 测试报告:

    2.  Conducted Immunity测试过程中测量信号:

    上面波形图是Conducted Immunity频率~106MHz时测出波形,从图可看出,当有Conducted Immunity信号时,Chip(AFE3010)所有引脚(包含VDD)均有noise. 
    请帮手提供意见和改善建议,谢谢。

  • 感谢您的信息。
    由于所有引脚均受影响,我认为最佳方案可能是移除/屏蔽上游的电磁干扰输入。在火线与零线(或根据接线方式为火线-火线)之间加装滤波电容如何?该输入端滤波器应能有效消除高频电磁干扰。

  • 问题1:

    下面是我司产品关于AFE3010电路设计,我们使用DC supply 26V代替SMPS供电AFE3010时,当上电后AFE3010  ALARM 输出 ON_1S,OFF_1S, 见下波形图,使用SMPS 供电便没此问题,请问FAE3010 VDD供电有什么要求?是否可提供有关资料参考



    问题2:

    为了改善Conducted Immunity (EN 61000-4-6),我在AFE3010供电电路增加TVS,RC filter,LC filter, 增加元件如下.

    1、D4 使用TVS (24V)
    2、C22使用3.3pF
    3、R7 改用电感0.1uH(LC Pi 型滤波)
    4、C16 增加24pF并联

    做了上面 1-4 更改重新做 Conducted Immunity (EN 61000-4-6)测试,测试结果显示 AFE3010 ALARM output ON_1s,OFF_1s, 与更改前测试结果为Ground fault 不同,因此我认为上面更改已改善Ground fault 问题。

    有以下问题需要你帮忙:
    1. 更改后 ALARM output ON_1s,OFF_1s 是self test fail 还是VDD造成?
    2. 对于上更改有何意见 & 建议?