您好！
我正在为协奏曲器件实施 ECC 自检例程。 我按照数据表中的详细说明操作、但在进入中断"单个闪存错误"时遇到问题。 在分步调试中、即使在启用 ECC 测试模式时 PIEFR12被正确设置为2、程序也永远不会进入 ISR。 代码执行一直停留在无条件循环中。 请参阅随附的代码并提出建议。
#pragma DATA_SECTION (gFlashAECCTest、"FlashAECCTestFile")；
uint32_t gFlashAECCTest；
#pragma DATA_SECTION (gFlashBECCTest、"FlashBECCTestFile")；
uint32_t gFlashBECTEST；
systemControlError_t testFlashECCLogic (const uint32_t * address、const eccFlashTestType_t testType)｛
CHAR ECC；
/*第5.3.10.3节中详述的准则*/
EALLOW；
ECC = Fapi_calculateEcc ((uint32_t)(address)<< 1、(uint64) 0x0000000000000000)；
FlashEccRegs.ERR_THRESHOLD.bit.ERR_THRESHOLD = 1；/*不能为0 -请参阅器件勘误表*/
FlashEccRegs.FADDR_TEST.bit.ADDR =(testType = test_address_single_bit)？ (uint32_t)(address)^ 0x1：(uint32_t)(address)；
FlashEccRegs.FDATAH_TEST =(testType = TEST_DATA_SINGLE_BIT)？ 0x00000001：0x00000000；
FlashEccRegs.FDATAL_TEST =(testType = TEST_DATAL_SINGLE_BIT)？ 0x00000001：0x00000000；
FlashEccRegs.fecc_test.bit.ecc =(testType = test_ecc_single_bit)？ ECC ^ 0x1：ECC；
FlashEccRegs.FECC_CTRL.bit.ECC_SELECT =(testType = test_DATA_Single_bit)？ 0：1；
FlashEccRegs.FECC_CTRL.bit.ECC_TEST_EN = 1；
EDIS；
asm (" NOP")；
EALLOW；
FlashEccRegs.FECC_CTRL.bit.ECC_TEST_EN = 0；
FlashEccRegs.ERR_CNT.bit.ERR_CNT = 0；
EDIS；
返回 SYS_CTL_NO_ERROR；
｝
systemControlError_t testFlashBank (const uint32_t *地址)｛
systemControlError_t ret；
if ((ret = testFlashECCLogic (address、test_address_single_bit))< 0) return；
if ((ret = testFlashECCLogic (address、test_DATA_Single_bit))< 0) return；
if ((ret = testFlashECCLogic (address、test_DATA_single_bit))< 0) return；
if ((ret = testFlashECCLogic (address、test_ecc_single_bit))< 0) return；
返回 SYS_CTL_NO_ERROR；
｝
systemControlError_t flashSelfTest (void)｛
systemControlError_t ret；
enableFlashECC()；
if ((ret = testFlashBank (&gFlashAECCTest))< 0) return；
if ((ret = testFlashBank (&gFlashBECCTest))< 0) return；
返回 SYS_CTL_NO_ERROR；
｝
systemControlError_t 初始化 ECC (void)｛
systemControlError_t 错误；
/*直接中断信号到 ISR */
EALLOW；
PieVectTable.CFLSINGERR =&flashSingleError；
PieVectTable.CRAMSINGERR =斜升错误(ramSingleError)；
EDIS；
//启用 PIE
PieCtrlRegs.PIECTRL.bit.ENPIE = 1；
PieCtrlRegs.PIEIER12.bit.INTx2 = 1； //启用 PIE 组12 INT2 (闪存单个错误)
PieCtrlRegs.PIEIER12.bit.INTx4 = 1； //启用 PIE 组12 INT4 (RAM 单错误)
PieCtrlRegs.PIEACK.all = M_INT12；//启用 PIE 中的嵌套
asm (" NOP")；//等待 PIEACK 退出流水线参考 使用说明勘误表 SPRZ272H
IER |= M_INT12；
//启用全局中断和更高优先级的实时调试事件：
EINT； //启用全局中断 INTM
ERTM； //启用全局实时中断 DBGM
//首先，我们验证 ECC 模块“SECDED”是否正常工作
//我们将 RAM 置于测试模式并注入一些错误...
// if ((err = RAMECCSelfTest ()< 0)｛
// DINT； //禁用全局中断 INTM
// DRTM； //禁用全局实时中断 DBGM
// 返回错误；
//｝
if ((err = flashSelfTest())<0)｛
DINT； //禁用全局中断 INTM
DRTM； //禁用全局实时中断 DBGM
退货错误；
｝
DINT； //禁用全局中断 INTM
DRTM； //禁用全局实时中断 DBGM
返回 SYS_CTL_NO_ERROR；
｝
中断空 flashSingleError (void)｛
EALLOW；
gFlashECCSingleErrorAddress = FlashEccRegs.Single_ERR_ADDR；
gFlashECrorStatus = FlashEccRegs.ERR_STATUS.all；
gFlashECrrorPositionReg = FlashEccRegs.ERR_POS.ALL；
gFlashCorrectedErrorCounter++；
FlashEccRegs.FECC_CTRL.bit.ECC_TEST_EN = 0；
EDIS；
｝
我的 cmd 文件：
FlashAECCTestFile ：> FLASHA、 PAGE = 0、 ALIGN (4)
FlashBECCTestFile ：> FLASHB、 PAGE = 0、 ALIGN (4)
