[参考译文] BQ40Z50-R2：具有 SOTC 参数的保险丝故障、如 TS1-4 一样考虑 TSint

您好、CM：

此问题已分配给我们的 bq40z50 专家、请稍等片刻、以便他回复您。

此致、

Adrian

您好：
您是否在这个问题上取得了任何进展？

此致

厘米

您好：

在对两个.gg 文件（两个有故障的 BMU）进行分析后、以下观察可帮助确定我的问题：

-操作状态【保险丝】为高电平,然后保险丝熔断
- PF 状态似乎并不表示任何异常
-生命:似乎没有任何东西

在配置中、我得到：

设置\ CFG \ FET 选项：[PACK_FUSE]= 0（电池组）
- SETTINGS \ CFG \ T°ENABLED：TS1 至 4 和 Int
- SETTINGS \ CFG \ T°MODE：TS1 至 4 = CELL、TSint = FET
- PF A, B, C, D:显然是一个标准配置
无论是电压电平还是温度、都没有发现任何异常

因此、我不理解是什么触发了保险丝。 我是否错过了一些明显的信息？

此致、

e2e.ti.com/.../data-memory_5F00_fuse_5F00_blow_5F00_card1.gg.csv

e2e.ti.com/.../data-memory_5F00_fuse_5F00_blow_5F00_card2.gg.csv

厘米

您好：
我继续我的调查,并注意到一些非常有趣的东西。

上下文中、bq40Z50 与 bq2947 监控电路相关联（与 EVM 中相同的原理图）。 因此、保险丝由两个电路单独控制。

我注意到 FUSE 位（操作状态 A）不仅指示固件的内部状态、还指示外部状态（我假设 FUSE 引脚具有自动采样输入模式）。 我会进行一些硬件操作来查看硬件和固件状态

这导致错误的路径、因为我仅使用保险丝作为输出、并且 2LVL 设置 (PF) 确实被禁用。

此外、根据文档、如果 2LVL 为 0、则会阻止显示保险丝。

显然、情况并非如此、但我们实际讨论的是哪种保险丝状态：[FUSE]（运行状态 A）还是[2LVL](PF 状态 C)？

还不清楚

此致

厘米

您好：

A) 正如机票开始时所述、我在两个板上看到了问题。 这不是实验室鉴定测试。

b) 为了进行调查、需要设置测试并牺牲一些电路板。

c) 如机票开头所述、支撑芯片量表的 PCB 可通过其他组件（如充电器电源）加热。 因此、Tsint 测量可以检测热量、但检测并不一定意味着它会根据配置做出反应；我发现阈值没有异常。

d) 在标签中指出、我有一个 BQ2947 监控芯片、例如 EVM（TI 演示板）。 然而,“ PF 保险丝 C“配置禁用了保险丝和 2LVL 位,这在我看来,不应该考虑,但我有我的怀疑这一点（如屏幕截图）...

此致、

厘米

您好：

鉴于分析是在两个月前完成的、这些卡片不再处于相同的状态。 我已经拆卸、检查、修复和重新配置了它们。

在这个支持票证的开头、我附加了 gg.csv 文件；我没有更多的文件。
这些文件显示录像的状态。

如果 PF 记录不可靠,这确实是一个功能问题,我没有怀疑。 但是、这些 BMU 的使用环境非常标准（远离任何潜在的恶劣条件）、因此没有任何可疑的故障（例如过压/欠压，电流或温度）。

这就是为什么我的调查重点关注 2LVL。

此致、

厘米

您好：
已注意。

但是、此测试仅表明停用的电池探头不会导致故障、这是非常正常的预期故障、因为这是直接功能。

这并不表明 Tsint 是否有任何影响、因为它的温度保持在 23°C。

同样、关于 2LVL 的问题仍未得到解答。

此致

厘米