[参考译文] BQ40Z50-R2：具有 SOTC 参数的保险丝故障、如 TS1-4 一样考虑 TSint

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https://e2e.ti.com/support/interface-group/interface/f/interface-forum/1582595/bq40z50-r2-fuse-failure-with-sotc-parameter-is-tsint-taken-into-account-like-ts1-4

器件型号： BQ40Z50-R2
主题中讨论的其他器件： BQ40Z50、 BQ2947

您好：

关于在温度条件下使用保护和永久故障、我对保险丝的检测以及针对 TSInt 变量所采取的措施有疑问。

我正在使用 4 节电池和内部温度（已激活）。

-在设置中,当引用单元格时,单元格 1-4 在几个段落中指定,但也有内部温度“TSInt “,这表明 TS1-4 和 TSInt 可能有一个内部“链接“用于固件处理。

- TS1-4 明确表示电池,而 TSInt 是内部芯片温度,其使用是不受限制的。

-在保护配置中,SOTC 和 SOTF 对电芯和 FET 进行区分,但 TSInt 没有具体说明。

我最近在有源 PF 下遇到了不明原因的保险丝熔断（无电芯相关事件）、根据日志历史记录、我有一个与电芯阈值相对应的“高“内部 TSInt 温度。该内部温度（即芯片）位于集成了电荷转换器（因此会加热）的 PCB 上、但与电芯温度没有直接关系。因此、我想知道在 SOTC 配置中、TSInt 温度是否可以与 TS1-4 电芯温度一同解释？

此致

厘米

4 个月前

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好、CM：

此问题已分配给我们的 bq40z50 专家、请稍等片刻、以便他回复您。

此致、

Adrian

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好：
您是否在这个问题上取得了任何进展？

此致

厘米

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好：

在对两个.gg 文件（两个有故障的 BMU）进行分析后、以下观察可帮助确定我的问题：

-操作状态【保险丝】为高电平,然后保险丝熔断
- PF 状态似乎并不表示任何异常
-生命:似乎没有任何东西

在配置中、我得到：

设置\ CFG \ FET 选项：[PACK_FUSE]= 0（电池组）
- SETTINGS \ CFG \ T°ENABLED：TS1 至 4 和 Int
- SETTINGS \ CFG \ T°MODE：TS1 至 4 = CELL、TSint = FET
- PF A, B, C, D:显然是一个标准配置
无论是电压电平还是温度、都没有发现任何异常

因此、我不理解是什么触发了保险丝。我是否错过了一些明显的信息？

此致、

e2e.ti.com/.../data-memory_5F00_fuse_5F00_blow_5F00_card1.gg.csv

e2e.ti.com/.../data-memory_5F00_fuse_5F00_blow_5F00_card2.gg.csv

厘米

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好：
我继续我的调查,并注意到一些非常有趣的东西。

上下文中、bq40Z50 与 bq2947 监控电路相关联（与 EVM 中相同的原理图）。因此、保险丝由两个电路单独控制。

我注意到 FUSE 位（操作状态 A）不仅指示固件的内部状态、还指示外部状态（我假设 FUSE 引脚具有自动采样输入模式）。我会进行一些硬件操作来查看硬件和固件状态

这导致错误的路径、因为我仅使用保险丝作为输出、并且 2LVL 设置 (PF) 确实被禁用。

此外、根据文档、如果 2LVL 为 0、则会阻止显示保险丝。

显然、情况并非如此、但我们实际讨论的是哪种保险丝状态：[FUSE]（运行状态 A）还是[2LVL](PF 状态 C)？

还不清楚

此致

厘米

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好 Cedric、

您是否能够随意重复此设置？如果是、是否可以在禁用 Tsint 的情况下重试？如果您有另一个 IC 靠近 FG（电量监测计）、那么 FG 可能会开始变得更热、因此 Tsint 开始检测温度的增加。

除了您的系统中的 FG 外、您是否还具有次级保护器？

此致、

-米格尔

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好：

A) 正如机票开始时所述、我在两个板上看到了问题。这不是实验室鉴定测试。

b) 为了进行调查、需要设置测试并牺牲一些电路板。

c) 如机票开头所述、支撑芯片量表的 PCB 可通过其他组件（如充电器电源）加热。因此、Tsint 测量可以检测热量、但检测并不一定意味着它会根据配置做出反应；我发现阈值没有异常。

d) 在标签中指出、我有一个 BQ2947 监控芯片、例如 EVM（TI 演示板）。然而,“ PF 保险丝 C“配置禁用了保险丝和 2LVL 位,这在我看来,不应该考虑,但我有我的怀疑这一点（如屏幕截图）...

此致、

厘米

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好、Credic、

我将尝试在我的桌面上运行一个实验、但根据 TRM、我会考虑所有传感器。

如有任何可能、您是否知道可能设置的任何其他 PF 保护。如果事件太快、PF 可能无法保存该事件、因此即使发生 PF 事件、也不能保证猜测会捕获该事件。如果仪表能捕捉到它、那么我们完全可以确定它可能是什么。

-米格尔

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好：

鉴于分析是在两个月前完成的、这些卡片不再处于相同的状态。我已经拆卸、检查、修复和重新配置了它们。

在这个支持票证的开头、我附加了 gg.csv 文件；我没有更多的文件。
这些文件显示录像的状态。

如果 PF 记录不可靠,这确实是一个功能问题,我没有怀疑。但是、这些 BMU 的使用环境非常标准（远离任何潜在的恶劣条件）、因此没有任何可疑的故障（例如过压/欠压，电流或温度）。

这就是为什么我的调查重点关注 2LVL。

此致、

厘米

0 admin 3 个月前

TI__Guru**** 2686885 points

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您好 Cedric、

要回答您的问题、TSInt 使用并影响固件的决策。

我做了一个快速实验、在该实验中禁用了所有温度传感器、但 Tsint (Temperature Enabled = 0x1) 除外。我强制在其他传感器上施加电压、使其认为器件处于 100°C。仅使用 Tsint 时、不会触发过热保护。

-米格尔

0 admin 3 个月前

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您好：
已注意。

但是、此测试仅表明停用的电池探头不会导致故障、这是非常正常的预期故障、因为这是直接功能。

这并不表明 Tsint 是否有任何影响、因为它的温度保持在 23°C。

同样、关于 2LVL 的问题仍未得到解答。

此致

厘米

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