https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/845089/sn74hc595-sn74hc595
器件型号：SN74HC595由于电路中 SN74HC595移位寄存器的电路故障、工程师分别使用测量了"SRCLR"(NOT)和"SRCLK"引脚10和11之间的"正常"类似 IC 的输入电阻
Keysight "微欧姆"电阻表。 这是在未施加 Vcc 的环境中从引脚10到11 (即引脚-引脚)测得的。 后来、他意识到、当测得的输入电阻接近800k 欧姆时、电阻极低的仪表会向配对的引脚施加11.3V 电压。 那么、问题是、考虑到仪表施加的电压、IC 会以任何可能会随时间推移导致可靠性问题的方式承受应力？ 同样、当时没有对 IC 施加 Vcc。
Thx 提前。
要在两个输入引脚之间获取电流、必须分解反向偏置钳位二极管或某些栅极隔离。
µA μ A 的电流大于任何正常泄漏电流、这意味着确实已超过某些击穿电压。
无论如何、当 VCC 悬空时、输入电压不会被钳位。 因此、如果一个栅极的电压超过绝对最大额定值、那么您可能会遇到问题；AHC/AHCT 设计人员指南(SCLA013)指出：
必须避免输入电压大于7V、以免损坏输入级的栅极氧化物。 这种损坏不一定是永久性的、但会对电路的预期寿命产生不利影响。 AHC 器件的栅极氧化层 Å 仅200 μ m。 7V 的输入电压对应于栅极氧化层上350kV/cm 的场强。 虽然只在输入电压高于10V 时才会发生氧化物击穿、但电子以大于350kV/cm 的场强越来越多地进入栅极氧化物、从而影响晶体管的特性并导致故障。
