[参考译文] BQ34Z100-R2：VEN 引脚和 BAT 引脚

你好、Nishie、

1-没有关于 BAT 端子和 VEN 的确切时序的文档、但当电池电量监测计读取电压时、有1秒的间隔

2-不一定是由于电池电量计由电池供电、同样、大多数电池绝不能达到0V、因为它很可能导致不可逆转的损坏

3-该时间应为1秒、但也可以取决于您设置的系统的数据闪存参数

4-我已经标记了您的示意图,最大的问题是橙色,但很多原因,这是由于没有看到我们的应用程序之前相似. 通常、我们建议遵循 EVM/典型应用原理图。

谢谢您、
Alan  

您好 Alan-san、

感谢您的支持。

2.我为我的解释不足而道歉。 我认为、当红色框中的 FET 关闭时、不会向 BAT 端子施加电压。 无论 VEN 端子是高电平还是低电平、如果没有向 BAT 端子施加电压、是否正常？

4、感谢您的评分

以下问题是否可以修复？

-将 R1100从100K Ω 更改为1k Ω

-移除 R1087和 R1101

此致、

Nishie

您好 Alan-san、

即使 VEN 变为 GND 电平、是否可以更改指定的电路？

此致、

Nishie

Yuta 您好！

我目前正在研究它。

谢谢您、
Alan

您好 Alan-san、

对于您过去给我的答案、我还有一些其他问题。

Unknown 说：

1-没有关于 BAT 端子和 VEN 的确切时序的文档、但当电池电量计读取电压时、间隔为1秒

->您说电池电量计读取电压的时间间隔为1秒、但理解它按下面波形中红色框所示的时间读取电压是正确的吗？

Unknown 说：

3-它应该是1秒、但也可以取决于您已经设置系统的数据闪存参数

->可以更改哪个数据闪存参数来更改 VEN 终端的电压输出周期？

Unknown 说：

我目前正在查看它。

->我希望您继续检查电路图。

此致、

Nishie

Yuta 您好！

该引脚由 IC 在内部控制、可降低电流消耗。

谢谢您、
Alan

Yuta 您好！

Unknown 说：

->您说电池电量计读取电压的时间间隔为1秒、但理解它按下面波形中红色框所示的时间读取电压是正确的吗？

[/报价]

-这是一个设计问题,我需要联系一个响应,响应时间可能会有所不同。

Unknown 说：

->可以更改哪个数据闪存参数来更改 VEN 终端的电压输出周期？

[/报价]

-我附上了一个 e2e 供参考。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/856665/bq34z100-g1-how-to-control-the-output-of-the-ven-pin

谢谢您、
Alan  

[/quote]

您好 Alan-san、

Unknown 说：

此引脚由 IC 在内部控制、可降低电流消耗。

->抱歉。 我很困惑、因为我发了多个问题。 这回答了哪个问题？

Unknown 说：

这是一个设计问题、我需要联系以获得响应、响应时间可能会有所不同。

我是否正确理解您可以让另一个团队对此进行调查？ 感谢您的支持。

此致、

Nishie

Yuta 您好！

Unknown 说：

->可以更改哪个数据闪存参数来更改 VEN 终端的电压输出周期？

Unknown 说：

->抱歉。 我很困惑、因为我发了多个问题。 这回答了哪个问题？

[/报价]

- VEN 是一个不能由用户控制的 PIN ,对不起的错误通信,因为我确实说了,但这是我的终端错误

[引述 userid="460063" url="~/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1504922/bq34z100-r2-ven-pin-and-bat-pin/5817764 #5817764"]

我是否正确理解您可以让另一个团队对此进行调查？ 感谢您的支持。

[/报价]

-我将不得不去运行测试,在我的最后,以验证这一点,你应该期待从这个结果下个星期的中旬。 但可以在1秒时进行 VEN 轮询、但是在咨询团队电压测量后、每秒轮询多次、但每秒仅更新一次。

谢谢您、
Alan

您好 Alan-san、

Unknown 说：

-VEN 是一个不能被用户控制的 PIN、很抱歉、由于我确实说了这是错误、但这是我最后的错误

->感谢您将更正通知我。 我知道用户无法更改 VEN 引脚的输出周期。

根据客户确认的信息、EVM 的 VEN 引脚的输出周期为20秒、但理解这意味着用户无法更改的寄存器已更改、这是否正确？

Unknown 说：

-为了验证这一点、我必须在我的最后进行测试、并且你应该在下周中旬之前得到这样的结果。 但可以在1秒时进行 VEN 轮询、但是在咨询团队电压测量后、每秒轮询多次、但每秒只更新一次。

->让我来测试一下会很有帮助。

BAT 引脚电压输入的测量在1秒时是否也正确？ 此外、BAT 引脚是否触发开始由 IC 内的计时器生成测量？ IC 引脚是否发出触发器？

此致、

Nishie

您好 Alan-san、

您有任何更新吗？

此致、

Nishie

Yuta 您好！

Unknown 说：

了解这意味着用户无法更改的寄存器已被更改

是的,这是正确的

Unknown 说：

->请我对它进行测试非常有帮助。

-当前由于工作负载,此任务已被推进

谢谢您、
Alan

您好 Alan-san、

感谢您的支持。

Unknown 说：

-当前由于工作负载、此任务已向前推进

->感谢您花时间回复。 该测试是否可以回答我有关 BAT 引脚的问题？

此致、

Nishie

您好 Alan-san、

很抱歉继续重复。

Unknown 说：

请参考下面的 e2e、其中统计信息"(VEN)进行电压测量时、每秒将脉动一次至2.5V。
[/报价]

->因为它说" 何时 进行了电压测量。"了解 BAT 端子的测量每1s 一次是正确的吗？

此外、了解 BAT 端子的测量在 IC 启动并连接电池后立即开始是否正确？

此致、

Nishie

您好 Alan-san、

感谢您的支持。

1. 据我所知,BAT 端子每隔1秒测量一次电池电压。 用户是否可以更改此测量的间隔？

2.  

Unknown 说：

我已经标记了您的原理图、最大的问题是橙色、但很多原因都是因为没有看到我们的应用程序事先是类似的。 通常、我们建议遵循 EVM/典型应用原理图。

->了解将 R1100的值从100k 更改为1k 的原因是增大流向 FET 的电流是正确的吗？ 另外、您能告诉我在100kΩ 中使用 R1100时出现的问题吗？

3.

Unknown 说：

BAT 引脚在进行电压检测时每1秒产生一次脉冲

-> IC 的内部计时器是否计算 BAT 引脚一秒脉冲生成的时间？

当 VEN 引脚连接到 GND 时、当 BAT 引脚开始测量时时序如何变化？ 是否仍保持一秒？

此致、

Nishie

您好 Alan-san、

感谢您的检查。 如果有更新、请告知我。

此致、

Nishie