您好！
将 TPS54360电路作为随附的原理图。
使用30~48V 输入电压、12V 输出电压和0.1~0.6A 电流。
在老化测试期间、TPS54360偶尔会死。 此时、每个引脚电阻如下所示。
a.1p-8p (BOOT - SW)：47 Ω
b.1p-2p (启动-输入电压)：47欧姆
c. 2p-8p (输入电压-SW)：0.0 Ω
您能否检查随附的原理图并告诉我是否有任何错误？
此致、
Nicky
您好 Katelyn、
您会看到这种损坏的一个原因是 TPS54360 的输入瞬态大于60V。
在此测试期间、器件如何通电？ => 我之前提到过老化测试。 在1~10小时运行后、出现此症状。
输入端是否有长电缆？ =>同轴电缆。 其长度为1~10M。
此外、C40的 ESR 是什么？ => 0.8 Ω
您还可以在 VIN=48V、IOUT=.6A 时共享开关节点波形的图像吗？ =>会给您发送。
客户使用 EVM 进行了测试、在开/关测试期间也出现了相同的症状。
此致、
Nicky
您好 Katelyn、
请参阅下面的我的评论、尽快让您了解 L8和布局。
您能否帮助澄清故障条件？
-"客户使用 EVM 进行了测试、在开/关测试期间也出现相同的症状。" -您是不是说您在启动期间通过切换 VIN 电压复制了 EVM 上的故障？ =>可以
"我提到过的老化测试。 在1~10 μ s 的工作时间后、出现此症状"-我的理解是、此测试在25C、48V 输入电压、600mA 负载下、并保持稳定状态运行。 是这样吗？ =>是、负载电流除外。 最大负载电流为300mA、而不是600mA。
-在客户老化测试和 EVM 中有多少个装置损坏？ => 7~8 IC 和1 EVM 的单位
此外、在您共享的波形中、什么是通道4？ 该 VIN、在 IC、L6之前、同轴电缆之前的哪个位置探测？ =>通道4是 Vin、并在 IC 侧探测(例如在 L7之后)。
还有一个问题。
测量的 Comp 引脚波形如所示。 COMP 波形上存在噪声。
如何降低此噪声？ 您能否推荐比较器滤波器值？
对于此比较器噪声、可能会出现哪种症状？
此致、
Nicky
你好、Nicky、
您能否回答以下有关开关节点波形的问题：
此外、您的示波器带宽是否在共享的开关节点波形中受到限制？ 我想了解是否存在任何开关节点振铃。
关于 Rboot = 22欧姆、您认为这可能会过大、并且不再改善开关节点振铃。 请参阅以下有关使用引导电阻器进行设计的应用手册： www.ti.com/.../slpa010.pdf
关于布局、二极管方向不遵循数据表建议。 这会导致反馈和 COMP 组件与器件的距离进一步增大、并增加接地回路。
数据表：
此致、
Katelyn
您好 Katelyn、
客户按照以下方式更改了电路、并且正在进行老化测试。
此电路更改是否可以使电路板保持稳定性？
此致、
Nicky
您好 Katelyn、
所连接的是您请求的开关节点和引导引脚波形。
请参阅随附的。
[开关节点]
[引导引脚]
此致、
Nicky
