[参考译文] BQ76952：BQ76952采样的电芯电压异常

您好 Luis，

抱歉、我 忘记告诉您、在我们通过 bqStudio 连接 BQ76952之前、我们通过连接到 BQ76952的 MCU 检测到了 LFO 故障。

该 LFO 故障是否与电芯电压采样问题有关？

LFO 故障的主要原因是什么？

此致。

艾伦

您好 Allen：

如果器件检测到其 LFO 频率 偏离其预期值过多、则会发生 LFO 故障。 因此、我认为这可能会导致一些问题。

我不清楚为什么会发生这种情况。 在这之前做过什么吗？ 或者、它是否可以通过某种方式进行复制？

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

您好、Luis：

当我们复位 BQ76952时、LFO 故障消失。 但 HWMX 故障位已设置。

可能是硬件故障？

您好 Allen：

听起来可能。 我建议您将 IC 完全替换。  

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

但为什么会发生该故障呢？

感谢您的帮助！

您好 Allen：  

为什么电芯1是-12mV？ 您能否分享您的原理图以供审阅？

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

e2e.ti.com/.../BMS_2D00_V1.pdf

我认为电芯-12mv 是由于首先发生了 HWMX 故障。 但无论如何、请在 ti.com 上查找

谢谢  

您好 Allen：

我看到电芯1 (VC1-VC0)有问题。 VC0的 Cell-0输入需要有输入滤波器组件、因此那里应该有100欧姆。 我猜是这可能导致了此处的问题。

此外、该电池无需配备 P-FET、它可以是 N 沟道 FET。 与我们的参考设计中显示的内容类似：

• TIDA-010208 

D1二极管应为肖特基二极管、而不是传统二极管。 D6/D9/D2也是如此。

Q30不应跨接于 CHG 或 DSG FET。 只能将其放置在 DSG FET 上。 借助电流设置、您可以通过 Q30的体二极管绕过 CHG FET。

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

Allen、

我还注意到、BQ76952 IC 的所有接地似乎都引用 PACK-。 这是不好的、所有这些都应参考 BAT-。  

编辑： 千万不要介意上面的评论。 我看到"PACK-"是您的 BAT-。

请记住、您还需要将电池电流的高电流路径与 IC 接地的低电流路径分开。 这可以通过0欧姆电阻器或网络连接来实现、如上面我分享的参考设计所示。

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙

Q30是预放电 FET、我看到参考设计与我的设计相同。

请再次确认。

顺便说一下、BQ76952的 BAT 引脚连接到充电 FET 的输出侧、这是否会导致任何问题？

谢谢

您好 Allen：

BAT 引脚通常连接到电池端子的正极侧。 我在您的原理图中没有看到这是如何连接的、但您的 Batin+  通常会连接到 CHG FET 源极的同一个节点。

是的、Q30是预放电 FET、但您的设计与我能告诉您的参考设计不同。 Q30应连接在  com 中获得

您好、Luis：

另一个问题可能需要您的帮助。

对于 BQ76952、采用3-16节电池进行监控、但当 BAT 引脚介于4.7-80V 之间时、BQ 仍然有效。

这意味着 BQ IC 将从电池消耗功率、直到电池组电压低于4.7V。

电池组电压如此低会损坏电池、对吗？ 如何解决该问题？

祝你一切

您好 Luis，

如果未添加 Cell0与 VC0之间的100欧姆电阻器、则 BQ 会发生什么情况？ BQ IC 现在或以后会出现故障吗？

此致。

艾伦

您好 Allen：

VC0引脚可能不受瞬态影响。 测量值也可能不那么准确。

我不确定还会发生什么情况、但我们不建议这样做。

此致、

路易斯·埃尔南德斯·萨洛蒙