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器件型号：LP8556 工具与软件：
您好！
我们发现一些 LP8556 VLDO 短接至 GND 的问题、此 IC 是否具有测试模式、我们可能会在器件中将此 IC 配置为不正确、从而导致损坏？
谢谢！
Jeff
Patrick、您好！
以下是有关 LP8556 VLDO (引脚19)测量波形的一些问题、请帮助检查：
谢谢！
Jeff
Patrick、您好！
以下是客户意见。 您是否知道 VLDO 升高到9V 的任何机会？
由于您的封装采用 WQFN 封装、因此从引脚直接损坏 IC 似乎很困难
如果 ESD 消失、应怀疑这个尖峰电压将被 PAC29 (10uF)吸收、我们之前在该引脚上进行了 ESD 测试、ESD 测试后无损坏。
由于 LDO 损坏、我们唯一能够重现的方法是在此引脚上施加大约9V 的电压、并且故障模式是类似的。
不确定我们是否配置不正确、该 IC 是否会进入测试模式、从而直接将高输入电压旁路到此引脚？
对于最新的故障样本(FA 将于本星期五发布)、在组装后、在我们的测试过程中、我们将检查是否所有 LP8556都可以配置和响应、这意味着所有 LP8556在组装后都可以正常工作、但在每天使用大约5个月后、我们发现了此故障。
Patrick、您好！
供参考。
