工具与软件:
您好!
我们发现一些 LP8556 VLDO 短接至 GND 的问题、此 IC 是否具有测试模式、我们可能会在器件中将此 IC 配置为不正确、从而导致损坏?
谢谢!
Jeff
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Patrick、您好!
以下是客户意见。 您是否知道 VLDO 升高到9V 的任何机会?
由于您的封装采用 WQFN 封装、因此从引脚直接损坏 IC 似乎很困难
如果 ESD 消失、应怀疑这个尖峰电压将被 PAC29 (10uF)吸收、我们之前在该引脚上进行了 ESD 测试、ESD 测试后无损坏。
由于 LDO 损坏、我们唯一能够重现的方法是在此引脚上施加大约9V 的电压、并且故障模式是类似的。
不确定我们是否配置不正确、该 IC 是否会进入测试模式、从而直接将高输入电压旁路到此引脚?
对于最新的故障样本(FA 将于本星期五发布)、在组装后、在我们的测试过程中、我们将检查是否所有 LP8556都可以配置和响应、这意味着所有 LP8556在组装后都可以正常工作、但在每天使用大约5个月后、我们发现了此故障。