[参考译文] TPS2556：自动重试电路：爬电需要

您好！

澄清一下、自动重试电路将仅适用于高电平有效器件 TPS2557。  TPS2556为低电平有效。

我手头没有 TPS2557要查看、但我有姊妹产品 TPS2559。  当 I FAULT 短接至 EN 时、 自动重试功能正常运行、但时序是负载的函数。  当 FAULT 变为低电平来指示过流时、开关将立即关闭输出。  一旦 VOUT 为0、FAULT 将更改为高阻态、从而重新启用器件。  在 TON 之后、输出将尝试再次上升。   对于较低的电阻和/或较低的输出电容、VOUT 将更快地降低、这意味着故障在较短的时间内保持低电平。  对于更大的电阻或更大的输出电容、VOUT 会减慢、从而使 FAULT/EN 保持低电平更长时间。

我将订购 TPS2557 EVM 以验证它是否符合 TPS2559的要求。

此致、
Eric

Eric、您好！

>澄清一下、自动重试电路仅适用于高电平有效的器件 TPS2557。  TPS2556为低电平有效。
是的、我知道。 因此、我在"Faultn"和"ENn"之间添加了逻辑、以实现"自动重试"功能。

> 对于较低的电阻和/或较低的输出电容, VOUT 会更快地降低,这意味着故障在较短的时间内保持低电平。
有。 我们希望您确定器件是否可能在最低输出电容(无容性负载)下隔离。 (从视角电阻开始、必须需要上拉电阻器。 因此没有负载的情况。)
是否有可能评论上述内容?

此致、

您好！

收到并检查 EVM 后、我必须移除 COUT。  我预计关断时间会立即生效、然后 VOUT 会尝试在 TON 之后升高。

为了阐明、您需要看到在 EN/FAULT、没有 C_RETRY、没有 C_OUT 时使用 R_PULLUP 进行自动重试？

谢谢！
Eric

Eric、您好！

>要澄清、您希望在 EN/FAULT、没有 C_RETRY、没有 C_OUT 时使用 R_PULLUP 自动重试？
是的、我们的电路将使用上拉电阻器100k Ω 来连接3.3V 和"Faultn"、并且我们不实现任何电容组件(Faultn 只连接到"Nch" FET 栅极和逆变器输入。)

此致、

我懂了。  OUT 引脚也没有任何电容？  这将影响测试。

谢谢！
Eric

Eric、您好！

>OUT 引脚也没有任何电容？  这将影响测试。
以上是两种情况。
第一个是采用"150uF"电容来满足 USBHUB 要求。
第二个是采用"4.7uF"电容进行去耦。 此情况下 VBUS 由 USB-Type C 控制器控制。

此致

您好、Eric San、

>好。  我可以在电路板送达后立即检查这一点。  发货到我的办公室需要3-5个工作日。
您有任何关于上述的更新吗?

此致、

还没有。  我会在它们到达后向您提供最新信息。

此致、
Eric

感谢您的答复。 好的、我将等待您的反馈。

BR、

您好、Eric San、

感谢您的答复。
我有以下问题。

Q1下面的电阻值显示的是哪一部分？
>约400-500m Ω、  

Q2您申请"Cout"的设置(在本例中、我在之前的文档中解释了"4.7uF"和"150uF"。)

Q3您是否可以显示"故障"信号的"低"周期？ ("我们"订单？)

Q4根据数据表、该器件的"抗尖峰脉冲"时间约为8ms 至9ms。
您说最低周期为"5ms"。 我认为、与上述"抗尖峰脉冲"时间相比、时间太短了。 "你以为你赢了吗?

BR、  

我一直在考虑如何更轻松地解决这个问题。  为什么不 完全跳过自动重试电路？  该电路设计为只要 EN 信号设置为启用状态、就会自动重试。  有关示例、请参阅数据表图9-7。  这能满足您的需求吗？

我不太愿意 为了这些目的继续在单个单元上收集数据。  每个单元都会有单位间的差异。  你的电路没有 Cretry 似乎工作正常,但我不能保证任何进一步的行为。

此致、
Eric

您好、Eric San、

>这是否符合您的需求?
我们了解该器件"故障"情况的行为。
在这一理解下、我们认为我们要添加该"自动重试"电路。

我希望您对下面内容的看法。

*当我们实施 Cretry(例如,数据表中显示的0.22uF),您是否还认为我们可以观察到这个不稳定的重试周期?

顺便说一下、我找不到您在数据表中描述的"图9-7"。 你指的是哪个数字？

此致、