This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TPS2556:自动重试电路:爬电需要

Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS2556, TPS2557, TPS2559
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1467745/tps2556-autoretry-circuit-necessity-of-cretry

器件型号:TPS2556
主题中讨论的其他器件: TPS2557TPS2559

工具与软件:

您好!

我们将参考数据表中的"10.2.1.2.3自动重试功能"一节来配置 TPS2556上的"AutoRetry"电路。
但是、我们现在不实现"可再生"电容。
根据上面的部分、这个电容被用来控制"自动重试"时间、然而、我希望您确认我们是否可以不执行这个电容。
我们的问题是、当我们控制"自动重试"时间过快时是否会发生振荡。
如果有任何问题、请您确认上述情况并给我评论一下吗?

此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    澄清一下、自动重试电路将仅适用于高电平有效器件 TPS2557。  TPS2556为低电平有效。

    我手头没有 TPS2557要查看、但我有姊妹产品 TPS2559。  当 I FAULT 短接至 EN 时、 自动重试功能正常运行、但时序是负载的函数。  当 FAULT 变为低电平来指示过流时、开关将立即关闭输出。  一旦 VOUT 为0、FAULT 将更改为高阻态、从而重新启用器件。  在 TON 之后、输出将尝试再次上升。   对于较低的电阻和/或较低的输出电容、VOUT 将更快地降低、这意味着故障在较短的时间内保持低电平。  对于更大的电阻或更大的输出电容、VOUT 会减慢、从而使 FAULT/EN 保持低电平更长时间。

    我将订购 TPS2557 EVM 以验证它是否符合 TPS2559的要求。

    此致、
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Eric、您好!

    >澄清一下、自动重试电路仅适用于高电平有效的器件 TPS2557。  TPS2556为低电平有效。
    是的、我知道。 因此、我在"Faultn"和"ENn"之间添加了逻辑、以实现"自动重试"功能。

    对于较低的电阻和/或较低的输出电容, VOUT 会更快地降低,这意味着故障在较短的时间内保持低电平。
    有。 我们希望您确定器件是否可能在最低输出电容(无容性负载)下隔离。 (从视角电阻开始、必须需要上拉电阻器。 因此没有负载的情况。)
    是否有可能评论上述内容?

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    收到并检查 EVM 后、我必须移除 COUT。  我预计关断时间会立即生效、然后 VOUT 会尝试在 TON 之后升高。

    为了阐明、您需要看到在 EN/FAULT、没有 C_RETRY、没有 C_OUT 时使用 R_PULLUP 进行自动重试?

    谢谢!
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Eric、您好!

    >要澄清、您希望在 EN/FAULT、没有 C_RETRY、没有 C_OUT 时使用 R_PULLUP 自动重试?
    是的、我们的电路将使用上拉电阻器100k Ω 来连接3.3V 和"Faultn"、并且我们不实现任何电容组件(Faultn 只连接到"Nch" FET 栅极和逆变器输入。)

    此致、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我懂了。  OUT 引脚也没有任何电容?  这将影响测试。

    谢谢!
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Eric、您好!

    >OUT 引脚也没有任何电容?  这将影响测试。
    以上是两种情况。
    第一个是采用"150uF"电容来满足 USBHUB 要求。
    第二个是采用"4.7uF"电容进行去耦。 此情况下 VBUS 由 USB-Type C 控制器控制。

    此致

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    好的。  我可以在电路板送达后立即检查这一点。  发货到我的办公室需要3-5个工作日。

    此致、
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Eric San、

    >好。  我可以在电路板送达后立即检查这一点。  发货到我的办公室需要3-5个工作日。

    您有任何关于上述的更新吗?

    此致、


  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    还没有。  我会在它们到达后向您提供最新信息。

    此致、
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您的答复。 好的、我将等待您的反馈。

    BR、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    我今天下午有机会在没有 CRetry 的情况下测试 tRetry。

    正如预期的那样、重试周期的周期根据加载条件而变化。  这是因为 VOUT 上较低的电阻会导致更快的放电、这意味着 FAULT 信号处于低电平的时间更短。

    约为400-500m Ω 时、重试周期不一致。  有时是~20ms、而有时则是~5ms。  这对于 VOUT 到 GND 的直接短路也是如此。  因此、我建议使用 CRetry 来控制最短关断时间。

    在随附的示波器波形中、C1为 IN、C2为 OUT、C3为/FAULT (兼用作 EN)。  我加入此功能是为了演示 OUT 短接至 GND 而没有 Cretry 的不一致重试时序。

    此致、
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Eric San、

    感谢您的答复。
    我有以下问题。

    Q1下面的电阻值显示的是哪一部分?
    >约400-500m Ω、  

    Q2您申请"Cout"的设置(在本例中、我在之前的文档中解释了"4.7uF"和"150uF"。)

    Q3您是否可以显示"故障"信号的"低"周期? ("我们"订单?)

    Q4根据数据表、该器件的"抗尖峰脉冲"时间约为8ms 至9ms。
    您说最低周期为"5ms"。 我认为、与上述"抗尖峰脉冲"时间相比、时间太短了。 "你以为你赢了吗?

    BR、  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    我一直在考虑如何更轻松地解决这个问题。  为什么不 完全跳过自动重试电路?  该电路设计为只要 EN 信号设置为启用状态、就会自动重试。  有关示例、请参阅数据表图9-7。  这能满足您的需求吗?

    我不太愿意 为了这些目的继续在单个单元上收集数据。  每个单元都会有单位间的差异。  你的电路没有 Cretry 似乎工作正常,但我不能保证任何进一步的行为。

    此致、
    Eric

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Eric San、

    >这是否符合您的需求?
    我们了解该器件"故障"情况的行为。
    在这一理解下、我们认为我们要添加该"自动重试"电路。

    我希望您对下面内容的看法。

    *当我们实施 Cretry(例如,数据表中显示的0.22uF),您是否还认为我们可以观察到这个不稳定的重试周期?

    顺便说一下、我找不到您在数据表中描述的"图9-7"。 你指的是哪个数字?

    此致、  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好!

    使用 Cretry 时、重新启用是根据从 VIN 到 EN 到 GND 的 RC 时间常数延迟的、因此它将保持稳定。

    这是图9-7。  在整个捕获过程中、EN 保持启用状态。

    此致、
    Eric