电路图如上,我使用的芯片是STM32F103VCT6，SPI选的是SPI1 ，引脚分别为PA5、PA6、PA7。

使用标准库开发，这个是初始化代码

void ADS1255_SPI_Configuration(void)
{
	SPI_InitTypeDef SPI_InitStructure;
	GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure;…

由于使用的是网上购买的数据转换模块，因此不清楚具体连接方式，我分别尝试过一下几种方式：

1.直接输出WAKEUP指令；

2.按顺序输出SYNC、WAKEUP、RDATAC/RDATA指令；

3.按顺序输出WRREG、SYNC、WAKEUP、RDATAC/RDATA指令；

4.先输出STANDBY、再输出WAKEUP指令；

5.直接用RREG指令尝试读取寄存器值；

在上面的几种操作中，CS信号都是与输出指令同步拉低，D0/D1都为0，CLK信号是一直持续输出…

程序初始化后主控每10ms向ADS1255发送一次读寄存器指令，从示波器可观测到正确发送了波形，同时ADS1255的DRDY引脚可以正常观察到30KHZ的信号，但DOUT引脚始终无输出(无论输入什么指令)。

最初的问题是发现无源晶振无法正常起振，多次更换晶振型号和起振电容无果后，改为飞线接入7.68MHz有源晶振，可观测到正确晶振波形。

随后发现DOUT始终无应答。下附各SPI引脚工作情况：

从图像可得出信息：主控可以正确的控制SCLK(500KHz…

在读写寄存器操作时，需要将DRDY引脚拉高才能写入吗？

在官网例程中,在 interface.c 文件中有函数
void delay_ms(uint32_t time_ms)
{
/* --- INSERT YOUR CODE HERE ---
* Delay for a number of milliseconds, as specified by "time_ms".
*
* The following code shows…

我的初始化代码如下

void ADS1255_Init(void)
{
uint8_t buff;
/*****************自校准的过程*******************/
while(DRDY1)
{}
;
CS1_L;
/****************设置ADS1256的ADC工作模式*****************/


ADS1255WREG(0x50…

1 外置一个50HZ的滤波器效果会不会更好，这个滤波器设计上有什么要注意的吗吗？ 2.在AIN引脚外还有301的电阻和其他电容，这是芯片的手册典型应用，我想问的是这是一个RC滤波吗？可以修改吗？修改的原则是什么呢？

我使用7.68Mhz的晶振，想知道如何使用内部的数字滤波器进行50hz的公频噪声滤波，应该配置哪个寄存器，跟采样率的关系是什么样的？此外ADS1260是下一代的升级款吗，有什么升级的地方，有什么不如1255的地方吗

如何修改data rate呢？

ads1255芯片采用差分模式，输入正与输入负端均在gnd~vdd之间，在采集正电压准确，在采集负电压时，总是采集到正数，如采集-0.8V,输入VINP=2.1V,VINN=2.9V,但采集到的数值是4.2V,如采集-1.2V,输入VINP=1.9V,VINN=3.1V,但采集到的数值是3.8V左右，在采集负电压时从没出现过符号为1的数。

我的ADS1256， 初始化时，关闭了buffer，但是输入通道不接入信号时仍然有0.7V的电压，(此时输入通道通过200K电阻接地)， 请问，这是正常的么？

Hi E2E,

在客户端偶发出现了采集数据全为0的现象，关机重启之后可以恢复。

我们统计了目前的排查情况如下：

1、当前现象在仅在客户端发生过，且属于偶发故障，结合故障日志，故障发生在开机之后，开机过程中我们会进行ADC复位，配置寄存器等操作，过程中会有电机运行、加热膜加热（工作频率1KHz左右），配置寄存器后数据采集是连续采集，所有数据全为0；关机重启之后数据可以恢复正常；
2、对于信号质量和信号时序，我们已经与规格书对照核对过，时序满足使用要求；噪声水平也是测试过的…

在使用ADS1255测量时，信号差分输入是AIN0接入2.5V基准，AIN1输入0-5V信号，用来测量正负双向，所以输入的信号范围就是±2.5V了，这样在G=1的时候要满足满量程范围VREF只能选择1.25V，现在选择了REF2025输出满足双路为2.5V/1.25V，看手册VBIA输出1.25V，两个基准输出都是OP缓冲输出，这个1.25V基准能直接接ADS1255的VREFP输入吗…

需要采集多个通道，前端用模拟开关切换后进入AIN0\AIN1差分输入，通道间的量程不同，采集过程中有需要重新配置增益寄存器，现在发现改变寄存器后，在通道改变后采集到的第一个数据会是上一个通道数据，这个不知道是什么原因，手册有将这个配置寄存器改变后对数据寄存器的影响吗？我想确认一下这个问题，另外寻求处理的方法，感谢！

我是用一个esp32采集三个ads1256数据，然后

硬件的连接方式是esp32的（六个引脚）sck、miso、mosi、drdy、reset、3.3同时连接到三个adc的对应引脚，然后用esp32的三个引脚作为片选，分别连接到ads1256的片选引脚，然后信号线上串联了一个100欧姆的牌组

程序上是分别三个adc初始化，然后依次读取三个adc的数据

现在遇到的问题是，读取到的数据噪音很大…

求助有关ADS1255串扰问题，请帮我分析一下，多谢。

问题描述：

1、使用ADS1255时，晶振分频后的频率会串扰到输入口。即在输入信号上叠加一个1/4分频的载波；比如晶振为7.68M，输入端口波形，存在很小的1.92MHz（1/4）的干扰。将SPI全部断开后，在输入端测试不到该干扰。

输入信号为200Hz的正弦波，测试了TI的ADS1256的DEMO板，也存在该频率…

差分电路按照手册如下图，配置是AIN0是N，AIN1是P，G=1,10000SPS,缓冲关闭，目的是测试输入AIN1输入-5V-5V的电压，其中0-5V对应0-0X7FFFFF，-5V-0V对应0X800000-0XFFFFFF,现在碰到以下问题，帮忙看看，谢谢！

第一个问题：

这个在输入+4.96v时，测得6-7引脚输入电压变低为4.6V（与数据寄存器数据对应…

需要确认一下，在CS为高的时候，DRDY转换完成后会输出低电平吗？

这个是ADS1256差分模式下读取数据的图，对于多路复用的时候每次读的数据都是前一个复用通道的数据，是不是必须按照这个格式去读？而且每次只能读一次数据？

比如我接了3路差分，分别对应01h,23h,45h,现在我想读取5次差分下的数据后做处理，按照图上这个过程，我可以轮询5次就获得3个差分通道的数据，这里我能不能对一个通道读5次呢？就是在读取01h数据的时候，发送WREG23h…

我在测试ADS1255的时候，VIN接地，发现的问题是AIN0与AIN1之间的电压，也就是Vb电压异常，条件是基准2.5V，buffer关闭，速率1000sps，其它是默认参数，

G=1时候，Vb=25mv左右，va=0.05mv;

而G=64时，Vb=360mv左右，Va=0.05mv

这样G=64时完全超出量程，芯片购入途径正常，换了一次也是一样，这个问题有人碰到吗？是什么原因引起的…

Hi

我在ADS1255的datasheet中看到如下的表格

请问这个data rate是指采样率还是ADC输出数据的速率（output rate）?

目前我的ADS1255采用差分方式输入信号，使用5位半的万用表测试得出输入信号的抖动大概是30μV左右，基准的抖动只有5μV以内。 问题出现在当我使用2.5sps采样时，采样结果的抖动大概是30μV左右和测得的输入端抖动差不多，当我使用7.5K速率采样时，抖动会扩大到1000μV左右，和数据手册标称的抖动不符合，请教一下有什么原因吗？

请问在地震勘探上ADS1282与ADS1255相比有什么优缺点，

使用该芯片做静电实验或热拔插VCC5V供电端后，READR引脚的输出频率会改变，采样率置为31.6us，我们设置的采样率为255us。故障出现时示波器测得的采样结果如下图： 

这边采用ADS1255作为数据采集，由于芯片描述内部有buffer且输入阻抗为80M，因此输入信号未在外部加buffer，然后发现输入信号采用2个5M电阻分压测试电压不准，撤掉输入信号后用外部万用表直接测量AINCOM和AIN1之间电压，发现有1.2V左右的浮电（考虑万用表输入阻抗10M欧，这个浮电带载能力比较强）。 芯片配置为STATUS=0x02（使用buffer），MUX=0x18（AIN1为+，AINCOM为-），ADCON=0x00（放大倍数1…