都是说是24位ADC，单数实际数据输出是16位的，这个怎么理解，请专家解释一下
你好，我们使用MSP430AFE253芯片进行项目开发，需要用到滤波处理，请问MSP430AFE253芯片能配合DSPlib库进行软件滤波处理吗，不行的话，需要怎么进行软件滤波处理，我们的使用环境是希望滤除特定频率的干扰波形。
你好，我使用MSP430AFE253IPWR设计一款采集小电压信号的模块，采集频率固定，在现场环境测试或者在工厂模拟一个干扰环境，ADC采集的值就异常了，这个干扰在公司测试是一个固定频率的。
正常情况（无干扰）波形：
有干扰波形：
我想实现有干扰波形的情况下也能采集到正常的小电压信号，想问下TI单片机自身有没有这方面的滤波算法，或者有没有什么滤波建议。
你好，我现在使用msp430afe253芯片开发，有用到flash存储数据，可以正常读写flash，但是设备频繁上下电测试时，会出现flash被清空的现象，请问这是哪里的问题，flash代码参考的是官方样例代码；
我目前使用MSP430AFE253芯片进行数据采集，由于环境干扰的问题，干扰环境下采样数据异常，我们使用的是内部差分信号输入，目前已确认硬件滤波设计没问题，考虑从软件层面解决问题，MSP430afe253芯片内部滤波怎么进行处理。
我看了用户手册“27.2.7 Digital Filter”数字滤波部分，没有看明白怎么进行软件滤波，希望能够详细解释一下，谢谢！
我目前使用MSP430AFE253芯片进行蓄电池内阻采集，通过PWM脉冲波，测量PWM脉冲波高低电平时的AD值，蓄电池在正常状态下（没有进行充电操作），测量的AD数值稳定，如下图：
蓄电池进行充电时，测量的AD数值就异常了，可能是有交流干扰，如下图：
问题：蓄电池在没有充电的状态下测量PWM脉冲高低电平时的AD值正常，蓄电池充电时，可能由于存在交流干扰，测到的PWM高低电平时的AD值异常。
请问这种问题应该怎么解决，能使模块在蓄电池充电操作时…
我目前使用MSP430AFE253芯片进行蓄电池内阻采集，通过PWM脉冲波，测量PWM脉冲波高低电平时的AD值，蓄电池在正常状态下（没有进行充电操作），测量的AD数值稳定，如下图：
蓄电池进行充电操作后，测量的AD数值就异常了，可能是有交流干扰，如下图：
问题：蓄电池在没有充电的状态下测量PWM脉冲高低电平时的AD值正常，蓄电池充电后，存在交流干扰，测到的PWM高低电平AD值异常。
请问这种问题应该怎么解决，能使模块在蓄电池充电操作时，也能正常测量PWM脉冲波高低电平时的AD值…
硬件没有使用外部晶振，使用内部时钟，代码增加了校准DCO频率的几行代码后，原先能稳定采集电压的ADC采集的电压值变得异常跳变，这是什么原因？
上面是增加的校准DCO频率代码，校准后多个模块串口波特率是统一了，但影响的模块正常的电压采集功能。请问是什么原因。
你好 我使用MSP430AFE253单片机测量蓄电池电压 没有接充电机时，差分ADC采集的数据正常 接了充电机给蓄电池充电后 差分ADC采集的值异常 交流干扰影响到了差分ADC采集 怎么解决交流的干扰呢
我的程序中如果把SD24GAINx 设定为0时。 计算公式是(AD值/7fff)*0.6V就可以正确算出具体的电压值。我现在的问题是想把这个-0.6V~0.6V这只范围缩少到一定的范围，是否可以修改SD24GAINx来达到效果？如果可以，我把SD24GAIN x设定为011即x8。计算公式(AD/7fff)*0.6中的0.6修改为多少？我尝试使用0.075是有偏差的，大概在0.0772才对。为何这样呢？是使用增益后出现的偏差吗？还是我这样理解就是错误的…
设计一个直流电能量功率计，电压1000V 暂定电流1000A.电压采用分压电阻，电流采用75mv分流电阻FL-2
设计时参考官方交流电能表的设计，有几个疑问。
上图是，我设计的原理图。下图是MSP430AFE253官方DEMO。
图2 图3
1.为什么VIN_P通道的…
最近在使用SD24_A时发现在输入端短接情况下理论上输出寄存器里的值应该为0附近的值，但是实际情况是65470左右，会有一个负的失调电压存在，后用外部短接来校准ADC实际值。后发现MSP430AFE253中SD24_A是支持内部短接校准失调电压的，但是开发手册上并没有写任何关于这个操作，请问是不具备这个功能吗？如果有该怎么操作呢？
msp430afe253单片机使用内部dco时钟如何配置，有没有示例代码？
单片机使用内部dco时钟时，怎么样配置串口寄存器，使波特率为9600？有没有示例代码？
您好！我是用该型号mcu做交流电压电流采样及两个GPIO输出驱动光耦传输电平信号，芯片外围电路如下，程序在AC小于110V，或者AC90V切到230V，MCU出现复位，程序初始化。请辅助分析一下，谢谢！
单片机是MSP430AFE253,写了个简单的测试程序。IAR Release生成的HEX文件。FET-Pro430烧写后单片机不能自动运行。非得重新上电才可以。运行后貌似也挺正常。请问是哪里设置不对么？
最近需要用MSP430AFE253，使用USART的UART通信，发现官方例程中的波特率配置和MSP430X2XX官方手册的常用波特率配置表不一致。如图所示，我按照手册配置波特率，串口通信的结果是乱码。例程的波特率配置是正确的。请问这是什么情况？
请问一下MSP430AFE253的VREF如果使用内部的电压基准，这个输出的电压基准是否可以提供给前面的仪表运算放大器INA126 的REF PIN作为参考偏置？在MSP430i2040里面明确说该VREF PIN除了接100nF电容外不能接其它负载，MSP430AFE253是不是类似情况，也就是说VREF是不是BUFFER输出的？
谢谢。
板子上的接口是SBW，包括：VCC、GND、SBWTCK、SBWTDIO
用IAR+仿真机，下载调试都正常。
现在有些功能细节需要测试，程序随时需要修改，但不需要给测试人员提供源程序。
请问：让测试人员怎样烧写程序比较方便？包括提供什么代码格式、用什么样的软硬件烧写平台？
最好是比较小巧的软件，不要像IAR那么大。
